Open/Top/Ram SPM 自感知探針原子力顯微鏡
- 公司名稱 廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 Open/Top/Ram SPM
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/11/24 9:08:02
- 訪問次數(shù) 120
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廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司成立于2010年8月，是國家高新技術(shù)企業(yè)，廣州科技小巨人企業(yè)，并在廣東股權(quán)交易中心成功掛牌（股權(quán)代碼：892081），通過ISO9001-2015質(zhì)量體系認(rèn)證和知識產(chǎn)權(quán)貫標(biāo)認(rèn)定體系，擁有近30項(xiàng)國家磚利。貝拓科學(xué)一直從事光譜分析儀器領(lǐng)域，自主研發(fā)儀器有光學(xué)接觸角測量儀，拉曼光譜儀，表界面張力儀，白光干涉膜厚分析儀，陣列式紫外可見分光光度計(jì)，積分球式透反射率測試儀等。具備光學(xué)設(shè)計(jì)、機(jī)械設(shè)計(jì)、軟件編寫和算法編寫核心能力，和中山大學(xué)、廣州大學(xué)、華南師范大學(xué)有緊密的合作關(guān)系，并且是廣州大學(xué)物理與光電學(xué)院的長期實(shí)習(xí)基地。貝拓科學(xué)所研發(fā)生產(chǎn)的產(chǎn)品定位在國內(nèi)高水平，未來面向市場。
貝拓科學(xué)陪伴著科學(xué)家一起探索未知事件，“Touch the future”作為我們的口號，貝拓科學(xué)尊重以嚴(yán)謹(jǐn)?shù)目茖W(xué)理論為指導(dǎo)，為科學(xué)家提供有力的科研工具。我們默默堅(jiān)持做前沿分析儀器的搬運(yùn)工，陪伴科學(xué)家不斷成長。我們很榮幸作為一些有儀器生產(chǎn)廠家，例如：日本Hitachi，德國WITec,德國Bruker，英國OXFORD，美國ThermoFisher,Ametek旗下輸力強(qiáng)和普林斯頓,以及中國臺灣OtO等大電子儀器廠家的代理，一起為中國的科學(xué)家提供專業(yè)的服務(wù)。
我們的宗旨是為科學(xué)學(xué)提供更專業(yè)，更貼心的服務(wù)。
我們的優(yōu)勢和專注點(diǎn)集中于材料測試方面，為了普惠科研工作者，我們還提供測試服務(wù)，其中包括材料的結(jié)構(gòu)、元素分布、表面特征、物理化學(xué)特性以及光學(xué)、電學(xué)特性的分析。
材料分析領(lǐng)域代理品牌：
OXFORD（牛津）、FEI（賽默飛）、KeySight(前安捷倫納米部)、STOE、AMETEK(阿美特克)、TESCAN(泰思肯)、LEICA、KRUSS、BEL、HITACHI（日立）、OTO（中國臺灣超微光學(xué)）、WITec（威泰克）、BRUKER（布魯克）、普析、徠卡、本原納米等。
接觸角測量儀、在線測厚儀、光學(xué)膜厚儀、紅外光譜儀、拉曼成像光譜儀、拉曼電鏡、低溫恒溫器、掃描探針顯微鏡/原子力、納米壓痕劃痕儀、橢偏儀、熱分析、差示掃描熱儀
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 原子力顯微鏡 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
原子力顯微鏡系列產(chǎn)品源于中山大學(xué)光電材料與技術(shù)國家重 點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,相關(guān)技術(shù)“達(dá)到優(yōu)良產(chǎn)品的水平”,多項(xiàng)研究成果 突破國際和技術(shù)壁壘。產(chǎn)品技術(shù)團(tuán)隊(duì)與廣東省集成電路工程 技術(shù)研究中心、廣東省綠色電力變換及智能控制工程技術(shù)研究中 心、中山大學(xué)物理學(xué)院和中山大學(xué)測試中心等單位,以及眾多高 校和研究單位、相關(guān)領(lǐng)域的優(yōu)秀企業(yè)有著長期緊密的合作關(guān) 系,在表面分析測試、微弱信號檢測、測控系統(tǒng)設(shè)計(jì)、儀器研發(fā)生產(chǎn)等方面具有深厚積累和豐富經(jīng)驗(yàn)。
自感知探針原子力顯微鏡特點(diǎn)：
● 采用壓電自感知探針的原子力顯微鏡，操作簡單；
● 兼容激光檢測型探針的原子力顯微鏡，功能強(qiáng)大；
● 高精度測控系統(tǒng)，主機(jī)隔音抗震設(shè)計(jì)，性能良好；
● 測試無激光干擾，可與光學(xué)高靈敏物鏡，聯(lián)用。
自感知探針原子力顯微鏡功能與應(yīng)用：
● 原子力顯微鏡的常規(guī)實(shí)驗(yàn)及研究,如:納米形貌物性研究、納米科技教育培訓(xùn)；
● 基于壓電自感知探針的形貌成像和譜測量分析,如光柵樣品、二維材料的頻率調(diào)制形貌成像；
● 基于激光檢測型探針的形貌成像和潽測量分析,如軟磁盤、光盤、光等樣品的接觸/輕敲模式的形貌成像；
● 掃描隧道顯微鏡(STM),包括形貌成像和隧道(需增配STM模塊)；
● 原子力顯微鏡與拉量聯(lián)用,實(shí)現(xiàn)無光環(huán)境的物性測量、納米尺度的拉量光譜分析(需增配光譜聯(lián)用模塊);
● 基于原子力顯微鏡的拓展應(yīng)用領(lǐng)域及實(shí)驗(yàn),包括:納米加工刻蝕、導(dǎo)電原子力顯微鏡(C-AFM)、靜電力顯微鏡(EFM)、磁力顯微鏡(MFM)等(需增配相應(yīng)功能模塊)。
技術(shù)參數(shù)：
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