多角度激光橢偏儀
產品型號：進口。
簡要描述：高性能橢偏儀，針對粗糙表面硅太陽能電池的測量裝置，擁有業(yè)內zui高測量精確度。

功能特點
多角度激光橢偏儀 SE400advanced使用632.8nm波長HeNe激光器，對測量薄膜厚度，折射率和吸收系數有非常出色的精度。 SE400advanced能夠分析單層膜，多層膜和大塊材料（基底）
■ 超高精度和穩(wěn)定性，來源于高穩(wěn)定激光光源、溫度穩(wěn)定補償器設置、起偏器跟蹤和超低噪聲探測器
■ 高精度樣品校準，使用光學自動對準鏡和顯微鏡
■ 快速簡易測量，可選擇不同的應用模型和入射角度
■多角度測量，可*支持復雜應用和精確厚度
■全面的預設應用，包含微電子、光電、磁存儲、生命科學等領域

技術指標
■ 激光波長632.8 nm
■ 150 mm （z-tilt） 載物臺
■ 入射角度可調，步進5o
■ 自動對準鏡/顯微鏡，用于樣品校準
■ Small footprint
■ 以太網接口連接到PC

選項
■ 微細光斑選項，光斑直徑30微米
■ 手動x-y方向移動載物臺，行程150 mm
■ 攝象頭選項，用于取代目鏡進行樣品對準
■ 液體膜測量單元
■ 反射式膜厚儀FTPadvanced，光斑直徑80微米
■ 雙波長激光 （405 nm 或1550 nm）
■ SIMULATION軟件

軟件特征
■ 預先定義應用
■ 多角度測量
■ 廣泛的材料數據庫
■ 擬合狀況的圖形反饋
■ 支持多種語言