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HPS2735鐵芯伏安特性測試儀適用于各種軟磁鐵芯閉路伏安特性的測量，模擬被測鐵芯或磁芯在工作頻率與工作電流時繞一圈所產(chǎn)生的感應電壓。

HPS2540精密壓敏電阻測試儀采用高頻高壓技術全新推出的一款儀器，基于高性能微處理器和高密度SMD貼裝工藝，產(chǎn)生高精度恒流、恒壓源，可以快速準確地測量壓敏電阻...

HPS2548精密環(huán)形壓敏電阻測試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測量技術，很好地消除了熱電對被測元件接觸的影響而引起的潛...

HPS2530PTC/NTC熱敏電阻測試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測量技術，很好地消除了熱電對被測元件接觸的影響而引...

HPS2535精密熱敏電阻測試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測量技術，很好地消除了熱電對被測元件接觸的影響而引起的潛在誤...

HPS2510-256精密多路電阻測試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測量技術，很好地消除了熱電對被測元件接觸的影響而引起...

HPS2510-64精密多路電阻測試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測量技術，很好地消除了熱電對被測元件接觸的影響而引起的...

HPS2510-48精密多路電阻測試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測量技術，很好地消除了熱電對被測元件接觸的影響而引起的...

HPS2510-32精密多路電阻測試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測量技術，很好地消除了熱電對被測元件接觸的影響而引起的...

HPS5130精密多路電阻測試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測量技術，很好地消除了熱電對被測元件接觸的影響而引起的潛在誤...

HPS2510-24精密多路電阻測試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測量技術，很好地消除了熱電對被測元件接觸的影響而引起的...

HPS5120精密多路電阻測試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測量技術，很好地消除了熱電對被測元件接觸的影響而引起的潛在誤...

HPS2510-16精密多路電阻測試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測量技術，很好地消除了熱電對被測元件接觸的影響而引起的...

HPS5112精密多路電阻測試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測量技術，很好地消除了熱電對被測元件接觸的影響而引起的潛在誤...

HPS5110精密多路電阻測試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測量技術，很好地消除了熱電對被測元件接觸的影響而引起的潛在誤...

HPS2510-8精密多路電阻測試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測量技術，很好地消除了熱電對被測元件接觸的影響而引起的潛...

HPS5106六路電阻測試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測量技術，很好地消除了熱電對被測元件接觸的影響而引起的潛在誤差.

HPS5103三通道直流電阻測試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測量技術，很好地消除了熱電對被測元件接觸的影響而引起的潛在...

HPS2521指針式高穩(wěn)定度毫歐姆表是專門用于測量低阻值直流電阻的儀器，具有顯示直觀、操作方便的優(yōu)點并用于完備的比較功能，可廣泛應用于各類電阻測量和金屬探傷等場...

HPS2521S高穩(wěn)定度毫歐表（數(shù)字式）是專門用于測量低阻值直流電阻的儀器，具有顯示直觀、操作方便的優(yōu)點并用于完備的比較功能，可廣泛應用于各類電阻測量和金屬探傷...