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E+H物位計(jì)的工藝特點(diǎn)及優(yōu)缺點(diǎn)
閱讀：1272 發(fā)布時(shí)間：2022-10-21E+H物位計(jì)的工藝特點(diǎn)及優(yōu)缺點(diǎn)：
1.物料自然堆積會(huì)產(chǎn)生堆積傾斜，所以固體物料的料面是不平整的，很難明確料位的準(zhǔn)確高度;物料進(jìn)出時(shí)，存在滯留區(qū)，影響料位位置點(diǎn)的測(cè)量。
2.料斗或儲(chǔ)倉(cāng)中，固體物料內(nèi)部易存在大的孔隙，形成拱橋。粉料內(nèi)部易存在小的間隙。前者影響對(duì)物料儲(chǔ)量的計(jì)算，而后者則在振動(dòng)或溫度、壓力變化時(shí)使物位也隨之變化。
界面測(cè)量中常出現(xiàn)的問(wèn)題是界面不明確，渾濁或泡沫的存在會(huì)影響測(cè)量結(jié)果。此外，容器內(nèi)攪拌、管道和加熱等設(shè)備的存在也會(huì)對(duì)物位檢測(cè)帶來(lái)一定的影響，特別是像雷達(dá)波、超聲波這些依賴(lài)回波信號(hào)測(cè)量的物位儀表。
折疊 由于不同的工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程的特點(diǎn)不同，所以料位計(jì)需針對(duì)不同的工藝條件來(lái)確定。為了能夠更明確地分析物位儀表，料位儀表的工作原理、特點(diǎn)和應(yīng)用環(huán)境，必須對(duì)物位測(cè)量的工藝要求進(jìn)行明確分析。
首先我們來(lái)分析液位測(cè)量的工藝特點(diǎn):
1.液面是規(guī)則表面。但當(dāng)液體流進(jìn)、流出時(shí)容易產(chǎn)生波動(dòng)或生產(chǎn)過(guò)程中出現(xiàn)起泡、沸騰等變化時(shí)同樣也會(huì)產(chǎn)生波動(dòng)。
2.容器內(nèi)發(fā)生有液體各處密度、黏度或溫度等物理量不均勻的現(xiàn)象。
3.容器內(nèi)發(fā)生有高壓、高溫、液體黏度過(guò)大、大量臟污雜質(zhì)、懸浮物等。
固體物料的物理、化學(xué)性質(zhì)較復(fù)雜，如有顆粒狀的、也有粉末狀的，并且有些介質(zhì)為大小不均勻的顆粒;固體物料的含水量變化、溫度等也是不均勻的變化;料倉(cāng)振動(dòng)、料倉(cāng)形狀不規(guī)則等。
E+H物位計(jì)的工藝特點(diǎn)及優(yōu)缺點(diǎn)：
常見(jiàn)料位計(jì)的優(yōu)缺點(diǎn)如下:
阻旋式料位計(jì)
優(yōu)點(diǎn):較可靠;
局限:不耐用。
電容式料位計(jì)
優(yōu)點(diǎn):較耐用;
局限:可靠性較差。
永磁式料位計(jì)
優(yōu)點(diǎn):可靠、靈敏、耐用;
局限:安裝時(shí)需垂直。
超聲波物位計(jì)
優(yōu)點(diǎn):非接觸。
局限:粉塵影響/凹凸面影響/噪音非接觸式;
雷達(dá)料位計(jì)
優(yōu)點(diǎn):非接觸。
局限:介電常數(shù)有要求/粉塵影響/凹凸面影響;
推薦:采用高發(fā)射頻率的，四線制的雷達(dá)
導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)
優(yōu)點(diǎn):對(duì)某個(gè)點(diǎn)的測(cè)量。
局限:介電常數(shù)有要求/掛料/拉力影響;
激光物位計(jì)
優(yōu)點(diǎn):非接觸
局限:粉塵影響/凹凸面影響
射頻導(dǎo)納料位計(jì)(電容式料位計(jì))
優(yōu)點(diǎn):點(diǎn)接觸
局限:介電常數(shù)有要求/時(shí)漂/溫漂/掛料/拉力;
推薦:建議采用進(jìn)口的產(chǎn)品
重錘式料位計(jì):分纜式及帶式兩種
優(yōu)點(diǎn):直接測(cè)量/手動(dòng)控制
局限:傳統(tǒng)的纜式重錘容易發(fā)生斷錘/埋錘/亂繩
推薦:帶式重錘
射線式料位計(jì)
優(yōu)點(diǎn):非接觸、穩(wěn)定
局限:有污染/價(jià)格高
稱(chēng)重式料位計(jì)
優(yōu)點(diǎn):可以測(cè)量質(zhì)量/體積
局限:抗震問(wèn)題/物料面狀況不知/價(jià)格高