小安電路板檢測(cè)熱像儀ATiC 115 解決方案

 電路板上的芯片或其它功率器件的溫度檢測(cè)在研發(fā)、 維修等環(huán)節(jié)有重要意義。研發(fā)階段，熱像儀解決了使 用傳統(tǒng)熱電偶布點(diǎn)、數(shù)據(jù)收集整理效率低下不夠直觀 的問題，也給研發(fā)的后續(xù)設(shè)計(jì)改進(jìn)提供了***的信 息。維修階段，熱像儀直觀快速的定位故障點(diǎn)，大大 降低維修操作的技能門檻，也***節(jié)約了檢測(cè)維修的 時(shí)間。 

產(chǎn)品特點(diǎn) ：

高原始紅外像素，成像清晰 

全局溫度點(diǎn)自動(dòng)追蹤，及時(shí)抓住瞬間電路缺陷 

15種偽彩切換，讓缺陷顯示更有層次 

免調(diào)焦，開機(jī)即用，省去對(duì)焦環(huán)節(jié) 

Type-C手機(jī)直連，超長(zhǎng)時(shí)間續(xù)航檢測(cè)連續(xù)性 

研發(fā)級(jí)別實(shí)驗(yàn)平臺(tái) 操作簡(jiǎn)單同時(shí)測(cè)得穩(wěn)、測(cè)得 準(zhǔn)、測(cè)的快 

支持MP4視頻錄制 

電路板溫度變化全程留存

小安電路板檢測(cè)熱像儀ATiC 115信息參數(shù)

熱像儀就是將物體發(fā)出的不可見紅外能量轉(zhuǎn)變?yōu)榭梢姷臒釄D像。熱圖像的上面的不同顏色代表被測(cè)物體的不同溫度。通過查看熱圖像，可以觀察到被測(cè)目標(biāo)的整體溫度分布狀況，研究目標(biāo)的發(fā)熱情況，從而進(jìn)行下一步工作的判斷。 現(xiàn)代熱像儀的工作原理是使用光電設(shè)備來檢測(cè)和測(cè)量輻射，并在輻射與表面溫度之間建立相互聯(lián)系。所有高于絕對(duì)零度（-273℃）的物體都會(huì)發(fā)出紅外輻射。熱像儀利用紅外探測(cè)器和光學(xué)成像物鏡接受被測(cè)目標(biāo)的紅外輻射能量分布圖形反映到紅外探測(cè)器的光敏元件上，從而獲得紅外熱像圖，這種熱像圖與物體表面的熱分布場(chǎng)相對(duì)應(yīng)。