菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM240核心特點

高精度測量：

配備比例接收器，能實現(xiàn)高計數(shù)率，進而進行高精度測量。

測量厚度精度高，當Au厚度大于0.1μm時，有標準片校準情況下精度<±5%，無標準片校準情況下精度<±10%。

最小測量點大小約0.09x0.09mm，適合測量微小區(qū)域。

多功能測量：

支持單性金屬鍍層厚度、合金鍍層厚度、雙鍍層厚度、雙鍍層（其中一層是合金）厚度、三鍍層厚度等多種測量模式。

可同時測定最多5種不同元素，分析多達四種金屬成分的合金。

微聚焦X射線管：

配備微聚焦X射線管以及可電動切換的視準器和基本濾片，更適合對微小型工件進行測量。

焦點尺寸≤50μm，能精準測量半導體芯片金線鍍層、精密傳感器電極等微型結(jié)構(gòu)。

智能化軟件：

搭載WinFTM®軟件，能預設(shè)測量程序（最多100組），進行數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析并生成報告，滿足ISO 9001等質(zhì)量管理體系要求。

支持薄膜FP法和塊體FP法軟件，可分析含鉛合金、多層鍍層（如Ni/Cu/Au）等復雜結(jié)構(gòu)。

便捷操作與觀察：

內(nèi)置500萬像素彩色視頻顯微鏡，支持38x-184x光學變焦，可實時觀察樣品表面細節(jié)并標記測量區(qū)域，定位精度達±0.005mm。

射線方向從下至上，樣品放置快速簡便；底部C型開槽的大容量測量艙，方便容納更多樣品。