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詳細介紹
泰勒霍普森便攜式粗糙度儀測量能力
參數(shù)覆蓋：支持 Ra、Rz、Rp、Rv、Rt 等基礎(chǔ)粗糙度參數(shù)，以及 Rq（均方根值）、Rsk（偏斜度）、Rku（峰度）等進階參數(shù)，共 11 項參數(shù)滿足不同行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)（如 ISO 4287、ASME B46.1）。
測量范圍：Ra 可達 40μm，Rz/Rv/Rp/Rt 可達 199μm，分辨率 0.01μm，精度為讀數(shù)的 5% + 0.1μm，噪聲水平低至 0.02μm。
傳感器技術(shù)：采用壓電式傳感器和 5μm 金剛石測針，耐磨性強，適合長期高頻次使用。
設(shè)計與操作
分體式結(jié)構(gòu)：顯示控制單元與驅(qū)動單元通過藍牙無線連接，可分離使用，便于測量深孔、曲面等復(fù)雜位置（如內(nèi)徑 70mm 的孔或倒置表面）。
直觀界面：2.4 英寸彩色 LCD 屏幕實時顯示測量結(jié)果及輪廓圖形，支持三種顯示模式（參數(shù) + 圖形、純參數(shù)、大字體參數(shù)）。
一鍵測量：簡化操作流程，單次測量僅需按下按鈕，結(jié)果自動計算并顯示。
泰勒霍普森SURTRONIC DUO、粗糙度儀
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測量能力
參數(shù)覆蓋：支持 Ra、Rz、Rp、Rv、Rt 等基礎(chǔ)粗糙度參數(shù)，以及 Rq（均方根值）、Rsk（偏斜度）、Rku（峰度）等進階參數(shù)，共 11 項參數(shù)滿足不同行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)（如 ISO 4287、ASME B46.1）。
測量范圍：Ra 可達 40μm，Rz/Rv/Rp/Rt 可達 199μm，分辨率 0.01μm，精度為讀數(shù)的 5% + 0.1μm，噪聲水平低至 0.02μm。
傳感器技術(shù)：采用壓電式傳感器和 5μm 金剛石測針，耐磨性強，適合長期高頻次使用。
設(shè)計與操作
分體式結(jié)構(gòu)：顯示控制單元與驅(qū)動單元通過藍牙無線連接，可分離使用，便于測量深孔、曲面等復(fù)雜位置（如內(nèi)徑 70mm 的孔或倒置表面）。
直觀界面：2.4 英寸彩色 LCD 屏幕實時顯示測量結(jié)果及輪廓圖形，支持三種顯示模式（參數(shù) + 圖形、純參數(shù)、大字體參數(shù)）。
一鍵測量：簡化操作流程，單次測量僅需按下按鈕，結(jié)果自動計算并顯示。
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