四英寸高低溫?zé)崤_(tái)以 100×100 mm 級(jí)臺(tái)面、寬溫域 負(fù)190℃至 400℃、高精度控溫±1℃,適配 4 英寸晶圓 / 芯片、小型組件與材料樣品的變溫測(cè)試與工藝模擬,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、材料科學(xué)、新能源、生命科學(xué)及跨學(xué)科表征,是科研與工業(yè)質(zhì)檢的核心溫控平臺(tái)。
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四英寸高低溫?zé)崤_(tái)以 100×100 mm 級(jí)臺(tái)面、寬溫域 負(fù)190℃至 400℃、高精度控溫±1℃,適配 4 英寸晶圓 / 芯片、小型組件與材料樣品的變溫測(cè)試與工藝模擬,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、材料科學(xué)、新能源、生命科學(xué)及跨學(xué)科表征,是科研與工業(yè)質(zhì)檢的核心溫控平臺(tái)。
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