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詳細(xì)摘要：OF-2C型光纖功率計采用 InGaAs光探測器,探測波長范圍 700nm 至1700nm;
采用高清觸控液晶界面,RS232 數(shù)字通信,支持模擬量輸出和外部脈沖觸發(fā)采集
數(shù)據(jù)等功能。

詳細(xì)摘要：標(biāo)準(zhǔn)霧度片用于霧度量值的傳遞和各種霧度計霧度測量的自校準(zhǔn)，符合《JJF 1303-2011 霧度計校準(zhǔn)規(guī)范》和《JJF 1814-2020 霧度片校準(zhǔn)規(guī)范》技術(shù)要求，作為霧度標(biāo)準(zhǔn)片使用。

詳細(xì)摘要：定制款應(yīng)力檢測系統(tǒng)
通過讓光沿著玻璃表面?zhèn)鞑?，根?jù)光彈性技術(shù)測量化學(xué)強(qiáng)化玻璃的表面應(yīng)力以及應(yīng)力層深度。本機(jī)帶有電腦，能夠減少測量者的誤差也更便于測量數(shù)據(jù)的管理。

詳細(xì)摘要：專為玻璃行業(yè)推出透過率測試附件，水平或者垂直載物臺方便用戶操作測試，數(shù)秒即出全光譜數(shù)據(jù)，廣泛應(yīng)用于產(chǎn)品全檢。提供快速、可靠和緊湊的性能，3秒鐘即出全光譜數(shù)據(jù)，使其成為在最小空間內(nèi)進(jìn)行質(zhì)量控制和保證測量的理想選擇。

光電二極管整列（p

詳細(xì)摘要：VMS-8S型透過率測試儀(分光光度儀)-1.0mm或0.5mm
專業(yè)測試手機(jī)面板及平板電腦面板上的IR孔透過率，PDA檢測器測速快（1s）、體積小、高信噪比以及優(yōu)異的波長重復(fù)性使其方便快捷十分適合面板生產(chǎn)廠商的使用。

詳細(xì)摘要：VMS-10S型透過率測試儀(分光光度儀)-0.3mm
2.5D玻璃面板透過率測試儀，專業(yè)測試手機(jī)面板及平板電腦面板上的IR孔透過率，PDA檢測器測速快（1s）、體積小、高信噪比以及優(yōu)異的波長重復(fù)性使其方便快捷十分適合面板生產(chǎn)廠商的使用。

詳細(xì)摘要：標(biāo)準(zhǔn)量值測量條件：
1）幾何條件：45/0，光譜條件：T狀態(tài)
2）校準(zhǔn)結(jié)果不確定度：U = 0.02, k = 2
彩色反射密度片 型號：DRC-6（6個測量區(qū)域，D: 0.1-1.0）

詳細(xì)摘要：用途：校準(zhǔn)透射是密度計的密度示值.
1測量原理：
透射在密度試樣上的輻射通量Φ0與透射過它的輻射通量Φτ之比的常用對數(shù)，就稱為該試樣的光學(xué)密度。用
2性能指標(biāo)：
標(biāo)準(zhǔn)視覺漫透射密度片屬于單面乳劑銀質(zhì)光楔片，具有特定的光學(xué)特

詳細(xì)摘要：CR401型標(biāo)準(zhǔn)密度計主要適用于需要出具相關(guān)測量結(jié)果報告的場所。同時也可用于無損探傷、攝影和印刷等工業(yè)生產(chǎn)過程中對產(chǎn)品質(zhì)量的實(shí)時監(jiān)測。
CR401型標(biāo)準(zhǔn)密度計為光學(xué)透射密度（OD）測試儀器。該儀器的主要功能是以0/d 幾何條件測量出被測樣品透射比，根據(jù)

詳細(xì)摘要：松香顏色測定采用“松香色度標(biāo)準(zhǔn)塊"對比法，每套“松香色度標(biāo)準(zhǔn)塊"由六個玻璃標(biāo)準(zhǔn)色塊組成，分別對應(yīng)：特、1、2、3、4、5級

詳細(xì)摘要：棋盤格校準(zhǔn)板套件，OPAL蛋白石鍍鉻制成
描述
康耐視玻璃校準(zhǔn)板套裝
康耐視棋盤格校準(zhǔn)板套件在一個木箱中包括兩個65mm x 65mm的板。
平板＃1（部件號96862-1）由55毫米x 55毫米區(qū)域中的25個交替的暗色和亮色1.1mm正方形組成，并具有垂直和

詳細(xì)摘要：機(jī)器人與機(jī)器視覺標(biāo)準(zhǔn)/波士頓科學(xué)棋盤陣列
波士頓科學(xué)棋盤陣列
這些帶有中心基準(zhǔn)標(biāo)記的*棋盤格陣列是由Boston Scientific設(shè)計的。它們有兩種尺寸，從20mm x 20mm到80mm x 80mm，有兩種不同的基材，用于透射照明應(yīng)用的玻璃上鍍鉻，或用于反射照明應(yīng)

詳細(xì)摘要：JJG536-2015《旋光儀與旋光糖量計》計量檢定規(guī)程要求，檢定校準(zhǔn)測量范圍+45°~-45°的旋光儀及糖量計的計量標(biāo)準(zhǔn)器

詳細(xì)摘要：定制款應(yīng)力檢測系統(tǒng)
通過讓光沿著玻璃表面?zhèn)鞑?，根?jù)光彈性技術(shù)測量化學(xué)強(qiáng)化玻璃的表面應(yīng)力以及應(yīng)力層深度。本機(jī)帶有電腦，能夠減少測量者的誤差也更便于測量數(shù)據(jù)的管理。

詳細(xì)摘要：專為玻璃行業(yè)推出透過率測試附件，水平或者垂直載物臺方便用戶操作測試，數(shù)秒即出全光譜數(shù)據(jù)，廣泛應(yīng)用于產(chǎn)品全檢。提供快速、可靠和緊湊的性能，3秒鐘即出全光譜數(shù)據(jù)，使其成為在最小空間內(nèi)進(jìn)行質(zhì)量控制和保證測量的理想選擇。

光電二極管整列（p

詳細(xì)摘要：SLS-50標(biāo)準(zhǔn)亮度源具有較大的亮度和照度調(diào)節(jié)范圍，內(nèi)置監(jiān)測和反饋系統(tǒng)，可設(shè)置亮度，系統(tǒng)自動調(diào)節(jié)至目標(biāo)亮度。該亮度源穩(wěn)定度高，光譜連續(xù)性好。積分球圖層采用上市公司技術(shù)研制，出光口均勻性更好，此外，亮度輸出精度高，可用于攝像頭、環(huán)境光傳感器、成像器

詳細(xì)摘要：A3-SR系列反射式膜厚測量儀可用于測量半導(dǎo)體鍍膜，手機(jī)觸摸屏ITO等鍍膜厚度，PET柔性涂布的膠厚等厚度，LED鍍膜厚度，建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測量膜厚的場合?？捎糜跍y量2納米到3000微米的膜厚，測量精度達(dá)到0.1納米。 在折射率未知的情況下，還可用于同

詳細(xì)摘要：A3-SR系列反射式膜厚測量儀可用于測量半導(dǎo)體鍍膜，手機(jī)觸摸屏ITO等鍍膜厚度，PET柔性涂布的膠厚等厚度，LED鍍膜厚度，建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測量膜厚的場合?？捎糜跍y量2納米到3000微米的膜厚，測量精度達(dá)到0.1納米。 在折射率未知的情況下，還可用于同

詳細(xì)摘要：A3-SR系列反射式膜厚測量儀可用于測量半導(dǎo)體鍍膜，手機(jī)觸摸屏ITO等鍍膜厚度，PET柔性涂布的膠厚等厚度，LED鍍膜厚度，建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測量膜厚的場合?？捎糜跍y量2納米到3000微米的膜厚，測量精度達(dá)到0.1納米。 在折射率未知的情況下，還可用于同

詳細(xì)摘要：A3-SR系列反射式膜厚測量儀可用于測量半導(dǎo)體鍍膜，手機(jī)觸摸屏ITO等鍍膜厚度，PET柔性涂布的膠厚等厚度，LED鍍膜厚度，建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測量膜厚的場合?？捎糜跍y量2納米到3000微米的膜厚，測量精度達(dá)到0.1納米。 在折射率未知的情況下，還可用于同