手動(dòng)光耦合系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
手動(dòng)耦合臺(tái)，比較經(jīng)濟(jì)，靈活，適合于實(shí)驗(yàn)室剛剛啟動(dòng)階段?？梢约嫒輪芜匜A耦合，如：U形波導(dǎo)耦合單邊光纖跟LD的耦合，如：COC測(cè)試雙邊光纖跟芯片耦合，如：直波導(dǎo)耦...
全電動(dòng)硅波導(dǎo)耦合測(cè)試臺(tái) 參考價(jià)：面議
全電動(dòng)硅波導(dǎo)耦合測(cè)試臺(tái)選型詳細(xì)說明1.六軸電動(dòng)調(diào)節(jié)架2.控制部分3.夾具部分4.獨(dú)立式多維度觀察系統(tǒng)
ODMR四族半導(dǎo)體光探測(cè)磁共振譜儀 參考價(jià)：面議
該系統(tǒng)利用 double-pass 聲光調(diào)制技術(shù)實(shí)現(xiàn)激光束的高開關(guān)比，連續(xù)激光依次通過偏振光分束器、聲光調(diào)制器、四分之一波片，光束正入射在反射鏡后沿原路返回，第...
alpha300 R顯微拉曼成像光譜儀 參考價(jià)：面議
一直以來，WITec alpha300 R 拉曼顯微系統(tǒng)以其世界前沿的成像技術(shù)倍受認(rèn)可，靈活、快速、高靈敏度、高性能等特性，使其成為共聚焦拉曼成像市場(chǎng)的帶頭人。...
RTS2多功能激光共聚焦顯微拉曼光譜儀 參考價(jià)：面議
RTS2 多功能激光共聚焦顯微拉曼光譜儀，基于新一代顯微共焦技術(shù)，具有良好擴(kuò)展性，可根據(jù)需求拓展為以拉曼為主要功能的顯微光譜工作站，是您科學(xué)研究的優(yōu)質(zhì)選擇！
OmniFluo-FLIM 系列顯微熒光壽命成像系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
OmniFluo-FLIM系列顯微熒光壽命成像系統(tǒng)由科研級(jí)正置顯微鏡，配合多波長(zhǎng)光路轉(zhuǎn)換機(jī)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)一套系統(tǒng)多波長(zhǎng)激發(fā)的靈活應(yīng)用，適應(yīng)不同樣品測(cè)試需求。高精度平移...
OmniFluo900系列穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀 參考價(jià)：面議
OmniFluo900系列熒光光譜儀擁有穩(wěn)態(tài)熒光和瞬態(tài)熒光光譜儀兩大系列產(chǎn)品。本系統(tǒng)以高性能Omni-λ 系列單色/光譜儀、高亮度復(fù)色光源及多波長(zhǎng)單色光源、高靈...
SIRM紅外體微缺陷分析儀 參考價(jià)：面議
SIRM是非接觸和非破壞型光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，對(duì)體微缺陷，如氧化物和金屬沉淀，位錯(cuò)、堆垛層錯(cuò)，體材料中的滑線和空隙等進(jìn)行測(cè)試。這個(gè)技術(shù)也可對(duì)GaAs 和 InP等復(fù)合...
LST體微缺陷測(cè)試設(shè)備 參考價(jià)：面議
LST是檢測(cè)半導(dǎo)體材料的體微缺陷有力工具，通過CCD相機(jī)，對(duì)入射光在樣品邊沿的散射進(jìn)行掃描，獲得體微缺陷分布信息。
非接觸遷移率測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
LEIModel1605，是非接觸遷移率測(cè)試系統(tǒng)，可對(duì)各種半導(dǎo)體材料和器件結(jié)構(gòu)進(jìn)行測(cè)試。無需制樣，消除了樣品制備引起的遷移率變化。
非接觸方塊電阻測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
LEI88 是針對(duì)科研類客戶開發(fā)的產(chǎn)品，具備非接觸快速測(cè)試方塊電阻和電導(dǎo)率功能。
非接觸Hall和方塊電阻測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
非接觸Hal和方塊電陽測(cè)試系統(tǒng)，可對(duì)GaAs,InP,InAs,GaN,AIN,Si,SiC等各種半導(dǎo)體材料設(shè)計(jì)的HEMTs,pHEMTs,HBTs,FETs器...
SRP 擴(kuò)展電阻測(cè)試 參考價(jià)：面議
SRP 測(cè)試系統(tǒng)，采用擴(kuò)展電阻率技術(shù)(SRP)，對(duì)載流子濃度和電阻率隨深度的變化做快速測(cè)試。
準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)-光致發(fā)光測(cè)試設(shè)備 參考價(jià)：面議
準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)-光致發(fā)光可以將QSS準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)少子壽命測(cè)試和PL光致發(fā)光技術(shù)相結(jié)合，快速獲得樣品的少子壽命分布圖譜信息。
光致發(fā)光檢測(cè)設(shè)備 參考價(jià)：面議
光致發(fā)光主要對(duì)材料能帶結(jié)構(gòu)，雜質(zhì)濃度和缺陷，組分機(jī)理以及材料質(zhì)量進(jìn)行檢測(cè)。WT-2000PL專門針對(duì)PL應(yīng)用開發(fā)，具有非接觸，快速，可變溫，光斑等特點(diǎn)。
PV-2000A 光伏多功能掃描系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
Semilab PV-2000A是業(yè)界功能最（zui）先進(jìn)的，用于晶硅太陽能電池片生產(chǎn)及光伏工藝研發(fā)的非接觸電學(xué)表征系統(tǒng),以滿足硅片到成品電池片不同工藝控制的測(cè)...
汞探針測(cè)試 參考價(jià)：面議
LEI Model2017B，通過汞探針接觸方法，對(duì)各類半導(dǎo)體材料的載流子濃度分布進(jìn)行測(cè)試，特別適合GaN.SiC等化合物材料。
汞CV測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
汞CV測(cè)試系統(tǒng)，用于對(duì)外延或前道工藝中的non-pattemed晶片做汞C-V測(cè)試;MCV-530L可測(cè)最大200mm的樣品。
CV-1500非接觸CV測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
CV-1500，用于測(cè)試界面和介電層的科研平臺(tái)，基于SDI Corona-Kelvin技術(shù)，可以進(jìn)行非接觸C-V/I-V測(cè)試。
深能級(jí)瞬態(tài)譜測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
深能級(jí)瞬態(tài)譜儀(DLTS)是檢測(cè)半導(dǎo)體材料和器件缺陷和雜質(zhì)的最好技術(shù)手段，它可以測(cè)定各種深能級(jí)相關(guān)參數(shù)，如深能級(jí)，俘獲界面，濃度分布等。
納米壓痕測(cè)試設(shè)備 參考價(jià)：面議
對(duì)小體積樣品材料力學(xué)性質(zhì)進(jìn)行定量化測(cè)試的關(guān)鍵技術(shù)。
原子力顯微鏡 參考價(jià)：面議
原子力顯微鏡使用非常小的探針，掃描樣品表面，在原子尺度探測(cè)樣品形貌。Semilab的AFM設(shè)備，可靈活配置和測(cè)試，具備優(yōu)異測(cè)試穩(wěn)定性和可靠性。
反射譜成像技術(shù) 參考價(jià)：面議
iSR是一種微光斑測(cè)試技術(shù)，用于實(shí)時(shí)刻蝕和Halftone工藝中的厚度測(cè)試
光譜型橢偏儀 參考價(jià)：面議
光譜型橢偏儀是多功能薄模測(cè)試系統(tǒng)，適合各種薄材料的研究。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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