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安捷倫 Cary UV-Vis-NIR 展現(xiàn)優(yōu)勢性能，助力亞納米級窄帶濾光片精準(zhǔn)表征
窄帶濾光片是精密光學(xué)系統(tǒng)的關(guān)鍵元件，可通過選擇性透過特定波長來實(shí)現(xiàn)光譜純化、波長隔離等功能，在光譜分析中扮演著關(guān)鍵角色。傳統(tǒng)窄帶濾光片的半高寬 (FWHM) 通常在 10nm 左右，而亞納米級 (< 1nm) 濾光片的表征對測量儀器的性能提出了極高要求。
面對嚴(yán)苛要求帶來的技術(shù)挑戰(zhàn)，安捷倫 Cary UV-Vis-NIR 分光光度計憑借超高的光譜分辨率脫穎而出，能夠精準(zhǔn)實(shí)現(xiàn)低至 0.12nm FWHM 濾光片的光譜特性表征，滿足應(yīng)用需求。與此同時，其具備智能化的 S/N 控制功能，可以動態(tài)調(diào)節(jié)掃描速度和光譜信噪比，使得光譜質(zhì)量和測試效率均得到有效提升。
圖 1. SBW 對濾光片的影響
窄帶濾光片測試條件：
儀器配置：
Agilent Cary 5000/6000i UV-Vis-NIR
光路設(shè)置：
樣品光路 2 個 1mm 光闌（樣品前后各 50mm）
參考光路 2 個 5mm 光闌（配有 1.1 Abs 的后光路衰減器）
關(guān)鍵參數(shù)：
◆
光譜帶寬 (SBW) ≤ 0.040nm
◆
雙光束模式 + 獨(dú)立控制標(biāo)簽激活
◆
信號平均時間 ≥ 5 秒（信噪比優(yōu)化）
圖 2. 窄帶濾光片的光譜圖
安捷倫 Cary UV-Vis-NIR 具有優(yōu)異的硬件系統(tǒng)設(shè)計，可將 SBW 設(shè)置低至 0.040nm 以滿足亞納米級分辨率的測試需求。同時，通過光闌和溫度控制，可以有效減少波長漂移，采用智能的信噪比控制功能還可靈活優(yōu)化掃描時間，提升效率。綜上可見，安捷倫 Cary UV-Vis-NIR 顯然是表征窄帶濾光片的理想工具，為科研與工業(yè)應(yīng)用提供了可靠的數(shù)據(jù)支持！