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當(dāng)前位置：山金工業(yè)（深圳）有限公司>>KETT凱特>> 精選KETT凱特 Fischerscope MMS PC2 薄膜厚度計(jì)
更新時(shí)間：2026-01-28 15:22:50瀏覽次數(shù)：205次
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,建材/家具,電子/電池,電氣,綜合 |
|---|---|---|---|
| 質(zhì)量范圍 | 1-512 amu | 桿材料 | 鉬 |
| 最大工作壓力 (EM) 最大工作壓力 (EM) | 1 E-5 mbar | 軸離子源 | 3E-4 A/mbar |
| 橫束離子源 | 7E-5 A/mbar | 交叉光束氣密離子源 | 7E-5 A/mbar |
| 帶磁鐵的橫束離子源 | 7E-4 A/mbar | 帶磁鐵的交叉光束氣密離子源 | 7E-4 A/mbar |
| 網(wǎng)格離子源 | 2E-4 A/mbar | 分辨率（可調(diào)） | 0.3 - 7 amu |
| 最小可檢測部分壓力 | 1 E-15 mbar | 帶電子倍增器的分壓比 | < 0.5 ppb |
| 最高工作溫度 工作溫度（傳感器和電子元件） | 150 °C | 測量速度 | 0.125 ms - 60 s/amu |
KETT凱特 Fischerscope MMS PC2 薄膜厚度計(jì)
KETT凱特 Fischerscope MMS PC2 薄膜厚度計(jì)
產(chǎn)品信息
薄膜厚度計(jì)
Fischerscope MMS PC2 多系統(tǒng)涂層測厚儀
產(chǎn)品概述
多功能薄膜測厚儀，最多可集成八個不同的模塊
100萬個數(shù)據(jù)存儲點(diǎn)，統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
提供多種可選探頭
主要規(guī)格
MMS PC2
測量方法：電磁感應(yīng)法；
測量對象：磁性金屬上的非磁性涂層；
測量方法：渦流法；
測量對象：非磁性金屬上的絕緣涂層
MMS PC2 鎳
測量方法：磁性測量
測量目標(biāo)：非磁性金屬和絕緣基底上的電解鎳鍍層，磁性金屬上的非磁性厚膜
MMS PC2 Sigma/PHASCOPE1
測量方法：相敏渦流法；
測量目標(biāo)：磁性/非磁性金屬上的金屬涂層
MMS PC2 Sigma/PHASCOPE2
測量方法：相敏渦流法；
測量目標(biāo)：印刷電路板通孔上的銅涂層
MMS PC2 SR
測量方法：電阻法；
測量對象：多層銅基板上的銅涂層
MMS PC2 雙工
測量方法：相敏渦流法；
測量對象：磁性/非磁性金屬上的涂層
測量范圍
具體價(jià)格因模塊而異，請聯(lián)系我們。
測量精度
具體價(jià)格因模塊而異，請聯(lián)系我們。
記憶
內(nèi)置：256MB，外置：USB
統(tǒng)計(jì)函數(shù)
測量次數(shù)、平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、指數(shù)波動等。
展示
觸摸面板彩色顯示屏（寬170毫米x高130毫米，800x600像素）
輸入/輸出端子
USB、LAN、RS232
電源
交流適配器
尺寸和重量
360（寬）×270（深）×170（高）毫米，5公斤
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗(yàn)證碼
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