首頁(yè)>>孚光精儀（中國(guó)）有限公司>>產(chǎn)品展示>>光學(xué)測(cè)量系列>>探針臺(tái)
開爾文探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
開爾文探針系統(tǒng)Kelvin Probe可用于光電化學(xué)中,精確測(cè)量不同半導(dǎo)體和導(dǎo)電材料的功函數(shù)，精度高。表面態(tài)在樣品的電荷轉(zhuǎn)移和功函數(shù)變化中起著重要作用。
超高真空超低溫四探針 參考價(jià)：面議
超高真空超低溫四探針SPM是超高真空室內(nèi)應(yīng)用設(shè)計(jì)的UHV極低溫多探針掃描探針顯微鏡，得益于多探針SPM優(yōu)異性能,這款產(chǎn)品可用于納米技術(shù)
超高真空開爾文探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
超高真空開爾文探針系統(tǒng)幫助用戶充分利用真空下的工作功能和接觸電位差（CPD）測(cè)量。每個(gè)系統(tǒng)都配有高質(zhì)量的手動(dòng)或電動(dòng)轉(zhuǎn)換器，可實(shí)現(xiàn)可靠和準(zhǔn)確的針尖到樣品定位，跟蹤...
單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
我們的單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng)采用非零信號(hào)檢測(cè)方法對(duì)材料的功函數(shù)/費(fèi)米能級(jí)進(jìn)行非常高質(zhì)量的測(cè)量。
雙面探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
雙面探針臺(tái)GTL5050旨在解決電路板PCBA雙面探測(cè)的困難任務(wù)。而不是試圖用垂直安裝的板進(jìn)行探測(cè)
大面積探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
大面積探針臺(tái)GTL4060是為較大面積PCBA探針分析測(cè)試設(shè)計(jì)的大面積探針平臺(tái),具有更大的測(cè)試平臺(tái)，以容納中大型測(cè)試板，但仍然能夠在較小的板、插座、連接器和子組...
非接觸式探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款非接觸式探針臺(tái)是為高頻電子設(shè)備、IC和材料測(cè)試/表征設(shè)計(jì)的非接觸式探針測(cè)試分析系統(tǒng)。實(shí)現(xiàn)了整個(gè)毫米波和太赫茲波段電子設(shè)備和IC的自動(dòng)S參數(shù)表征。測(cè)量范圍為5...
四探針電阻率電導(dǎo)率計(jì) 參考價(jià)：面議
這款四探針電阻率電導(dǎo)率計(jì)可快速測(cè)量材料的薄層電阻,方塊電阻,sheet resistance電阻率和電導(dǎo)率,適合多種材料和樣品測(cè)量。
自動(dòng)四探針電阻率mapping測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
自動(dòng)四探針電阻率mapping測(cè)試系統(tǒng)是為晶圓電阻率繪圖mapping設(shè)計(jì)的工業(yè)級(jí)自動(dòng)四點(diǎn)探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)。采用成熟的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，提供快速、準(zhǔn)確和可靠的晶圓樣品...
磁場(chǎng)低溫探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
磁場(chǎng)低溫探針臺(tái)采用MicroXact低溫磁探針臺(tái)技術(shù),滿足電磁鐵、超導(dǎo)磁體或電磁鐵和超導(dǎo)磁體的組合測(cè)試應(yīng)用。
進(jìn)口高溫探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款高溫探針臺(tái)是為高溫環(huán)境器件測(cè)試或真空環(huán)境或氣體環(huán)境器件探針臺(tái)分析測(cè)試而設(shè)計(jì)。
進(jìn)口無(wú)氦低溫探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
無(wú)氦低溫探針臺(tái)CPS-CF是為極低溫探針測(cè)試設(shè)計(jì)的閉循環(huán)低溫探針臺(tái)系統(tǒng),適合低溫下對(duì)器件和電路進(jìn)行探針測(cè)試。
閉循環(huán)低溫真空探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款閉循環(huán)低溫真空探針臺(tái)是半自動(dòng)低溫真空探針臺(tái),可在低溫單CCR系統(tǒng)9K，雙CCR系統(tǒng)4.5K和三CCR系統(tǒng)低于4K溫度下測(cè)試經(jīng)驗(yàn)和器件。
激光切割修復(fù)探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
激光切割分析探針臺(tái)集成分析探針臺(tái)和半導(dǎo)體激光修調(diào)trimming系統(tǒng),適合半導(dǎo)體分析切割,失效分析,半導(dǎo)體修調(diào)trimming,結(jié)構(gòu)層移除,標(biāo)記等諸多應(yīng)用。
進(jìn)口半自動(dòng)晶圓探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款半自動(dòng)晶圓探針臺(tái)廣泛用作分析探針臺(tái)和RF探針臺(tái),可測(cè)試100mm晶圓,性價(jià)比高,配置靈活多樣,具有加熱型晶圓夾盤chuck,體式顯微鏡,RF屏蔽箱等諸多配件...
半自動(dòng)真空探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款半自動(dòng)真空探針臺(tái)SPS-2600-VAC和SPS-2800-VAC系列是MicroXact的真空探針系統(tǒng)，設(shè)計(jì)用于支持在真空或受控氣體環(huán)境中對(duì)多達(dá)100mm...
磁探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款磁探針臺(tái)可提供三維磁場(chǎng)控制,滿足磁性控制RF探針測(cè)試應(yīng)用.作為磁場(chǎng)探針臺(tái)實(shí)現(xiàn)了平面磁場(chǎng)的任意操控,方便自旋電子器件探針測(cè)試.
進(jìn)口大型晶圓探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
大型晶圓探針臺(tái)600LS是專業(yè)為300mm晶圓測(cè)試設(shè)計(jì)的大尺寸晶圓測(cè)試探針臺(tái)系統(tǒng),廣泛用于6''晶圓,8''晶圓和12''晶圓探針測(cè)試應(yīng)用。
進(jìn)口半自動(dòng)探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款半自動(dòng)探針臺(tái)廣泛用作電動(dòng)分析探針臺(tái)和半自動(dòng)晶圓探針臺(tái),可測(cè)試200mm晶圓,采用重型多功能探針臺(tái)平臺(tái)制造,配置靈活多樣,具有加熱制冷晶圓夾盤chuck,體式...
進(jìn)口晶圓測(cè)試探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款手動(dòng)型晶圓探針臺(tái)廣泛用作分析探針臺(tái)和RF探針臺(tái),可測(cè)試200mm晶圓,性價(jià)比高,配置靈活多樣,具有加熱型晶圓夾盤chuck,體式顯微鏡,RF屏蔽箱等諸多配件...
進(jìn)口分析探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款手動(dòng)型分析探針臺(tái)廣泛用作晶圓探針臺(tái)和RF探針臺(tái),性價(jià)比高,配置靈活多樣,具有加熱型晶圓夾盤chuck,體式顯微鏡,RF屏蔽箱等諸多配件可選擇,適合實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)...
微探針臺(tái)系統(tǒng),micro probe 參考價(jià)：面議
微探針臺(tái)系統(tǒng)micro probe system可植入顯微鏡中,把顯微鏡改造成探針臺(tái)系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)微操作和微測(cè)量功能。
進(jìn)口手動(dòng)探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款手動(dòng)探針臺(tái)適合150mm尺寸晶圓測(cè)試,是經(jīng)濟(jì)型探針臺(tái)但是具有昂貴探針臺(tái)的良好參數(shù)性能，結(jié)構(gòu)緊湊而方便使用,非常適合實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體器件測(cè)試和電路測(cè)試應(yīng)用。
進(jìn)口高溫探針臺(tái),高功率探針tai 參考價(jià)：面議
采用signatone探針臺(tái)技術(shù)實(shí)現(xiàn)300mm尺寸晶圓探針臺(tái)測(cè)試,屬于半自動(dòng)RF/DC/CV測(cè)試高功率探針臺(tái)。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
10