高靈敏度近紅外分析

NIRQuest 近紅外光譜儀，采用優(yōu)化的光學(xué)平臺設(shè)計，具有更高的靈敏度，提供三種可選配置，NlRQuest+1.7(900-1700nm)、NiRQuest+2.2(900-2200nm)和NIRQuest+2.5(900-2500nm)。

NIRQuest+光譜儀可以用于實驗室或在線檢測，比如工業(yè)生產(chǎn)線或液體樣品檢測。應(yīng)用領(lǐng)域包括材料表征、塑料回收領(lǐng)域成分鑒定以及液體的化學(xué)濃度測量。

NIRQuest 近紅外光譜儀的樣品光譜

相較于上一代NRQuest產(chǎn)品,NIRQuest+系列具有更高的靈敏度，更低的檢測極限，更短的積分時間。支持板載平均功能可顯著提高光譜儀的信噪比性能。

近紅外光譜儀應(yīng)用概述

在線快速檢測需求

由于靈敏度的提升，積分時間縮短，從而降低了檢測時間。在流水線或流動液體樣品檢測時具有很大優(yōu)勢。

低檢測限(LOD)

在弱光條件下，近紅外光譜受到噪音干擾較為嚴(yán)重，但由于靈敏度的提升，弱光條件下信噪比得以優(yōu)化，從而拓寬了檢測極限。

長波段的反射測量

漫反射測量在較長的波長(到2500nm)往往缺乏足夠的信號較高的靈敏度測量反射光譜時提供了更好的信噪比，從而得到更高質(zhì)量的光譜。

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近紅外光譜儀參數(shù)概覽

光譜范圍：

NIRQuest+1.7：900-1700 nm

NIRQuest+2.2：900-2200 nm

NIRQuest+2.5：900-2500 nm

光學(xué)分辨率：~3.4-10.8nm(FWHM)(取決于具體配置)

積分時間：1 ms-200ms

信噪比：15000：1(板載平均模式)

狹縫：25μm

熱電制冷：制冷到-20℃℃以降低暗電流靈敏度提升：和上一代相比增強(qiáng)2.5倍濾光片：配備OFI-RG830長通濾光片消除830nm波長以下的干擾。

*如有更改，恕不另行通知