旗辰X熒光光譜儀X-50 Alloy

旗辰X熒光光譜儀X-50 Alloy

l 核心芯片ARM架構(gòu)，操作系統(tǒng)反應(yīng)更快；分析儀重量更輕，體積更小，攜帶更方便；

l 采用新一代高性能，高精度，高靈敏度大面積Si-PIN探測器，擁有更低的元素檢出下限；

l 采用新一代的校準技術(shù)，具有更高的計數(shù)率，從而使儀器具有更快的檢測速度和更好的精確性；

l 采用升級核心算法，使儀器重要指標重復(fù)性（RSD%）提升；

l 工業(yè)級雙層探測器保護技術(shù)，內(nèi)置不銹鋼快門保護裝置，測試時自動打開，測試結(jié)束后自動關(guān)閉，有效的保護儀器在測試過程中不會被不規(guī)則樣品損傷探測器，降低了分析儀損壞的風險；

l 內(nèi)置高清彩色攝像頭，能使用戶準確觀察到測試部位;

l 內(nèi)置微點準直器，可測試焊縫及細小樣品;

l 應(yīng)用于合金：碳鋼、模具鋼、工具鋼、高速鋼、不銹鋼、銅合金、鋁合金（Al Mg Si選擇更高配置）、鋅合金、貴金屬等，同時也可以添加或者選擇購買應(yīng)用曲線如三元催化中的Pt Pd Rh等土壤、礦石、鍍層、RoHS等。

l 底部四方形設(shè)計，平衡性好。使儀器可自立于工作臺，便于放置；儀器底部和主體尾部在一條直線上，能反向自立于工作臺，測試小樣品無需手握，也無需單獨購買支架；

l Android OS操作系統(tǒng)，有利于智能化和擴展性，方便客戶數(shù)據(jù)系統(tǒng)與臺式電腦操作系統(tǒng)相結(jié)合。