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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
| NanoCalc薄膜反射測(cè)量系統(tǒng) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| 薄膜的光學(xué)特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射測(cè)量系統(tǒng)可以用來(lái)進(jìn)行10nm~250µm的膜厚分析測(cè)量，對(duì)單層膜的分辨率為0.1nm。根據(jù)測(cè)量軟件的不同，可以分析單層或多層膜厚。
產(chǎn)品特點(diǎn)
操作理論zui常用的兩種測(cè)量薄膜的特性的方法為光學(xué)反射和投射測(cè)量、橢圓光度法測(cè)量。NanoCalc利用反射原理進(jìn)行膜厚測(cè)量。 查找n和k值可以進(jìn)行多達(dá)三層的薄膜測(cè)量，薄膜和基體測(cè)量可以是金屬、電介質(zhì)、無(wú)定形材料或硅晶等。NanoCalc軟件包含了大多數(shù)材料的n和k值數(shù)據(jù)庫(kù)，用戶也可以自己添加和編輯。 應(yīng)用NanoCalc薄膜反射材料系統(tǒng)適合于在線膜厚和去除率測(cè)量，包括氧化層、中氮化硅薄膜、感光膠片及其它類(lèi)型的薄膜。NanoCalc也可測(cè)量在鋼、鋁、銅、陶瓷、塑料等物質(zhì)上的抗反射涂層、抗磨涂層等。 NanoCalc系統(tǒng)
NanoCalc規(guī)格
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| NanoCalc | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| 薄膜的光學(xué)特性主要有反射和干涉.NanoCalc可以用來(lái)進(jìn)行10nm~250µm的膜厚分析測(cè)量，對(duì)單層膜的分辨率為0.1nm。根據(jù)測(cè)量軟件的不同，可以分析單層或多層膜厚。
產(chǎn)品特點(diǎn)
操作理論zui常用的兩種測(cè)量薄膜的特性的方法為光學(xué)反射和投射測(cè)量、橢圓光度法測(cè)量。NanoCalc利用反射原理進(jìn)行膜厚測(cè)量。 查找n和k值可以進(jìn)行多達(dá)三層的薄膜測(cè)量，薄膜和基體測(cè)量可以是金屬、電介質(zhì)、無(wú)定形材料或硅晶等。NanoCalc軟件包含了大多數(shù)材料的n和k值數(shù)據(jù)庫(kù)，用戶也可以自己添加和編輯。 應(yīng)用NanoCalc薄膜反射材料系統(tǒng)適合于在線膜厚和去除率測(cè)量，包括氧化層、中氮化硅薄膜、感光膠片及其它類(lèi)型的薄膜。NanoCalc也可測(cè)量在鋼、鋁、銅、陶瓷、塑料等物質(zhì)上的抗反射涂層、抗磨涂層等。 NanoCalc系統(tǒng)
NanoCalc規(guī)格
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| NanoCalc | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| 薄膜的光學(xué)特性主要有反射和干涉.NanoCalc可以用來(lái)進(jìn)行10nm~250µm的膜厚分析測(cè)量，對(duì)單層膜的分辨率為0.1nm。根據(jù)測(cè)量軟件的不同，可以分析單層或多層膜厚。
產(chǎn)品特點(diǎn)
操作理論zui常用的兩種測(cè)量薄膜的特性的方法為光學(xué)反射和投射測(cè)量、橢圓光度法測(cè)量。NanoCalc利用反射原理進(jìn)行膜厚測(cè)量。 查找n和k值可以進(jìn)行多達(dá)三層的薄膜測(cè)量，薄膜和基體測(cè)量可以是金屬、電介質(zhì)、無(wú)定形材料或硅晶等。NanoCalc軟件包含了大多數(shù)材料的n和k值數(shù)據(jù)庫(kù)，用戶也可以自己添加和編輯。 應(yīng)用NanoCalc薄膜反射材料系統(tǒng)適合于在線膜厚和去除率測(cè)量，包括氧化層、中氮化硅薄膜、感光膠片及其它類(lèi)型的薄膜。NanoCalc也可測(cè)量在鋼、鋁、銅、陶瓷、塑料等物質(zhì)上的抗反射涂層、抗磨涂層等。 NanoCalc系統(tǒng)
NanoCalc規(guī)格
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薄膜的光學(xué)特性主要有反射和干涉.NanoCalc可以用來(lái)進(jìn)行10nm~250µm的膜厚分析測(cè)量，對(duì)單層膜的分辨率為0.1nm。根據(jù)測(cè)量軟件的不同，可以分析單層或多層膜厚。
產(chǎn)品特點(diǎn)
-
可分析單層或多層薄膜
-
分辨率達(dá)0.1nm
-
適合于在線監(jiān)測(cè)
操作理論
zui常用的兩種測(cè)量薄膜的特性的方法為光學(xué)反射和投射測(cè)量、橢圓光度法測(cè)量。NanoCalc利用反射原理進(jìn)行膜厚測(cè)量。
查找n和k值
可以進(jìn)行多達(dá)三層的薄膜測(cè)量，薄膜和基體測(cè)量可以是金屬、電介質(zhì)、無(wú)定形材料或硅晶等。NanoCalc軟件包含了大多數(shù)材料的n和k值數(shù)據(jù)庫(kù)，用戶也可以自己添加和編輯。
應(yīng)用
NanoCalc薄膜反射材料系統(tǒng)適合于在線膜厚和去除率測(cè)量，包括氧化層、中氮化硅薄膜、感光膠片及其它類(lèi)型的薄膜。NanoCalc也可測(cè)量在鋼、鋁、銅、陶瓷、塑料等物質(zhì)上的抗反射涂層、抗磨涂層等。
NanoCalc系統(tǒng)
| NC-UV-VIS-NIR | |
| 重量： | 250-1100 nm |
| 厚度： | 10 nm-70 m |
| 光源： | 氘鹵燈 |
| NC-UV-VIS | |
| 重量： | 250-850 nm |
| 厚度： | 10 nm-20 m |
| 光源： | 氘鹵燈 |
| NC-VIS-NIR | |
| 重量： | 400-1100 nm |
| 厚度： | 20nm-100µm （可選1µm-250µm） |
| 光源： | 鹵燈 |
| NC-VIS | |
| 重量： | 400-850 nm |
| 厚度： | 50 nm-20μm |
| 光源： | 鹵燈 |
| NC-NIR | |
| 重量： | 650-1100 nm |
| 厚度： | 70 nm-70μm |
| 光源： | 鹵燈 |
| NC-NIR-HR | |
| 重量： | 650-1100nm |
| 厚度： | 70 nm-70μm |
| 光源： | 鹵燈 |
| NC-512-NIR | |
| 重量： | 900-1700 nm |
| 厚度： | 50 nm-200μm |
| 光源： | 高亮度鹵燈 |
NanoCalc規(guī)格
| 入射角： | 90° |
| 層數(shù)： | 3層以下 |
| 需要進(jìn)行參考值測(cè)量： | 是 |
| 透明材料： | 是 |
| 傳輸模式： | 是 |
| 粗糙材料： | 是 |
| 測(cè)量速度： | 100ms - 1s |
| 在線監(jiān)測(cè)： | 可以 |
| 公差（高度）： | 參考值測(cè)量或準(zhǔn)直（74-UV） |
| 公差（角度）： | 參考值測(cè)量 |
| 微黑子選項(xiàng)： | 配顯微鏡 |
| 顯示選項(xiàng)： | 配顯微鏡 |
| 定位選項(xiàng)： | 6"和12" XYZ 定位臺(tái) |
| 真空： | 可以 |