原位解決方案-掃描電鏡原位高溫拉伸臺(tái) 參考價(jià)：面議
原位解決方案-掃描電鏡原位高溫拉伸臺(tái)掃描電鏡原位高溫拉伸臺(tái)集成了力學(xué)拉伸模塊以及高溫環(huán)境模塊，可以實(shí)現(xiàn)在掃描電鏡中對(duì)樣品原位加熱的同時(shí)進(jìn)行拉伸實(shí)驗(yàn)。
電鏡原位氣氛加熱環(huán)境測(cè)量系統(tǒng)原位解決方案 參考價(jià)：面議
PicoFemto電鏡原位氣氛加熱環(huán)境測(cè)量系統(tǒng)原位解決方案，將MEMS氣氛環(huán)境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺(tái)上，在掃描電鏡中制造可控的氣氛環(huán)境并且可以對(duì)實(shí)驗(yàn)...
電鏡原位液體-電化學(xué)測(cè)量系統(tǒng)原位解決方案 參考價(jià)：面議
電鏡原位液體-電化學(xué)測(cè)量系統(tǒng)原位解決方案，采用全新的O圈輔助密封設(shè)計(jì)，攻克了以往原位液體解決方案裝樣困難的問題。
原位解決方案——光電力一體化系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位解決方案——光電力一體化系統(tǒng)集成了掃描探針控制單元，可在三維空間內(nèi)對(duì)電學(xué)探針與光纖探針進(jìn)行亞納米級(jí)別精度的操縱與定位。
SEM原位解決方案——SEM納米力測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
SEM原位解決方案——SEM納米力測(cè)量系統(tǒng)將納米壓痕儀集成進(jìn)掃描電鏡中，使用戶可以在掃描電鏡中進(jìn)行原位納米壓痕研究。
SEM原位解決方案——低溫/冷凍真空傳輸系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
SEM原位解決方案——低溫/冷凍真空傳輸系統(tǒng) 360°旋轉(zhuǎn)冷臺(tái)、冷阱 溫度范圍:-60°C to +50℃C最大功率:~45W(12V,3.5A)溫度穩(wěn)定性:±...
SEM原位解決方案——納米探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
SEM原位解決方案——納米探針臺(tái)產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)了三維空間上的準(zhǔn)確定位， 它具有分辨率高，尺寸緊湊，行程大，操作簡(jiǎn)單，能在真空下使用等優(yōu)點(diǎn)，可應(yīng)于SEM真空腔體內(nèi)完成各...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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