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沖擊試樣缺口圖像測(cè)量?jī)x 詳細(xì)摘要： 沖擊試樣缺口圖像測(cè)量?jī)x利用*光學(xué)圖像技術(shù)將被測(cè)沖擊試樣缺口V型U型缺口圖像通過千萬(wàn)像素的相機(jī)及鏡頭，將圖像采集到電腦顯示器上，通過我公司測(cè)量軟件SMTMeasS...
產(chǎn)品型號(hào)：TOP 所在地：深圳市 更新時(shí)間：2025-08-22 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
沖擊缺口測(cè)量分析儀 詳細(xì)摘要： 沖擊缺口測(cè)量分析儀用于金屬材料擺錘沖擊試樣缺口的測(cè)量分析工作。通過其特定的電子光學(xué)采樣系統(tǒng)進(jìn)行沖擊試樣缺口形貌全視野實(shí)時(shí)采樣，可完成擺錘沖擊試樣V、U型缺口深度...
產(chǎn)品型號(hào)：TOP-IG 所在地：深圳市 更新時(shí)間：2025-08-22 參考價(jià)： 面議 在線留言