三豐全自動影像測量儀特點:

Quick Vision系列產(chǎn)品可成為您測量系統(tǒng)的理想選擇.它用途廣乏,不僅能夠實現(xiàn)視像測量,還能夠進行特定激光高度和形狀測量以及接觸式觸發(fā)測頭立體工件測量。

-快速！清晰！簡捷

快速聚焦，快速成像取得了快速測量的效果。簡單的鼠標器操作，快速圖像測量機可以地測量您的各種物體而無需接觸。

-無接觸測量的成像操作

清楚的成像閱讀是通向測量的必由之路。QUICK VISION運用了擁有380,000個繪畫素的高分辨力的CCD黑白攝像機。這樣不僅增強了圖像閱讀的性，而且還可以對非常不鮮明的或非常小而且復雜的物體如IC前端構造那樣的無法由常規(guī)的接觸式的測量儀器進行測量的部件進行無接觸式的圖像測量。

-高精度和高速度測量

X/Y 測量范圍:200mm-650mm(8"-26")

Z測量范圍: 200-250mm(8"-10")

三豐全自動影像測量儀測量精度:

(Apex) E1xy=(1.5+3L/1000)um

E2xy=(2.5+4L/1000)um

驅動速度為250mm/s和高累計速度為980mm/s2是三豐公司的驕傲。結合快速自動聚焦和自動抽邊的功能，QUICK VISION在數(shù)秒之內就可以進行高精度的測量。

-高精度，高分辨率光柵尺

三豐QUICK VISION圖像測量系統(tǒng)采用高分辨率，高精度，低膨脹玻璃光柵尺作為各軸的基準，由三豐的Kiyohara Manufacturing

Department地下實驗室制造。

- 高質量的照明系統(tǒng)

照明系統(tǒng)在盡可能完善圖像閱讀能力方面發(fā)揮著重要作用。QUICK VISION的特征是在RGB彩色LED和可編程環(huán)形(PRL)照明裝置條件下可實現(xiàn)強大的邊緣檢測功能。此外，還帶有與表面，輪廓和環(huán)行照明*兼容的LED。

RGB彩色LED可通過紅、籃、綠、白(綜合)等照明顏色的改變，可實現(xiàn)白光無法獨立完成的邊緣檢測功能。

LED優(yōu)質的性能有效提高了測量效率。

LED超常的使用壽命不僅更易于維護，同時還有效降低了功耗。

LED真正實現(xiàn)了均勻照明和顏色再現(xiàn)性，同時有效提高了工件程序的兼容性。

使用可編程環(huán)形(PRL)照明裝置可以控制照射角度和光線強度。

可通過改變兩個曲光鏡的位置在30°和80°之間任意設置照射角度。此照明方式對斜面和微細階差邊緣增強*。

此外，PRL照明裝置還能夠分別控制上、下、左、右的光線強度。此照明方式可通過在任意方向控制光線強度來制造陰影區(qū)域，從而實現(xiàn)測量邊緣增強效果，可使你創(chuàng)建出對測量的光影。

- 多點自動聚焦功能

二手三豐影像測量儀采用多點聚焦系統(tǒng)，可自動根據(jù)測量點選擇焦點。

此系列產(chǎn)品采用了3種類型的具有高重復精度和快速處理激光聚焦功能(選購件)的視像聚焦系統(tǒng)，實現(xiàn)了高精度非接觸高度測量。

1．表面聚焦

視像聚焦系統(tǒng)可用于測量各種區(qū)域尺寸的高度，其優(yōu)點在于，在塑料模具表面或加工表面上聚焦時不受表面粗糙度影響。

2．邊緣聚焦

視像(邊緣聚焦)系統(tǒng)確保能夠在邊緣位置聚焦。

3．式樣聚焦

進行式樣投影的式樣聚焦系統(tǒng)即使在對比度很低的透明物體或鏡面上也能實現(xiàn)清晰聚焦，可有效測量印刷電路板防護層或聚酰亞胺表面的厚度。

3．激光自動聚焦（選購件）

聚焦速度可達20mm/秒，適于 進行

快速厚度測量。此系統(tǒng)可通過連接端口高度

等多點測量有效提高測量效率。

- 倍率變換裝置

可編程電動鏡頭旋轉盤具有從低倍率到超高被率的觀察范圍(用于PRO、PRO3型)

QV觀察系統(tǒng)采用高N.A. 、輕度失真光學系統(tǒng)，因此可在顯示器屏幕上實現(xiàn)高精度幾何測量。此外，可編程電動鏡頭旋轉盤范圍觀察較大，可通過改變物鏡實現(xiàn)從低倍率到超高倍率的觀察，即可使用物鏡的低-中倍率范圍1x-2.5x，用于觀察塑料模制工件或模壓工件，也可使用物鏡的高到超高倍率5x-25x，用于觀察電子工件或半導體。

- 可在一個系統(tǒng)中實現(xiàn)非接觸測量和接觸測量

加裝QV接觸式觸發(fā)測頭裝置（選購件）后，系統(tǒng)不但能夠進行非接觸視像測量，還能夠通過加裝的測頭實現(xiàn)接觸測量。

可進行立體工件測量接觸式觸發(fā)測頭可對僅通過圖像處理無法測量的壓制零件或塑料模壓工件和加工工件進行3D測量。

可使用的模塊更換架在一系列自動測量過程中，可使用模塊更換架代替視像測量和接觸式觸發(fā)測頭測量。