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在鋼鐵行業(yè)向優(yōu)質(zhì)化、高端化發(fā)展的今天，材料顯微分析技術(shù)已成為鋼鐵行業(yè)提升產(chǎn)品質(zhì)量、破解生產(chǎn)難題、新品研制開發(fā)、產(chǎn)品失效分析的重要保障手段。近日，歐波同集團(tuán)“專家技術(shù)服務(wù)萬里行”活動(dòng)走進(jìn)沙鋼集團(tuán)江蘇淮鋼
2025年8月12日，由中國機(jī)械工程學(xué)會(huì)主辦，中國機(jī)械工程學(xué)會(huì)失效分析分會(huì)、北京航空航天大學(xué)承辦，歐波同集團(tuán)獨(dú)家冠名的中國大學(xué)生機(jī)械工程創(chuàng)新創(chuàng)意大賽——“歐波同杯”失效分析賽在北京航空航天大學(xué)圓滿閉幕
2025年8月10日，由中國機(jī)械工程學(xué)會(huì)主辦、中國機(jī)械工程學(xué)會(huì)失效分析分會(huì)與北京航空航天大學(xué)共同承辦、歐波同集團(tuán)獨(dú)家冠名的中國大學(xué)生機(jī)械工程創(chuàng)新創(chuàng)意大賽——“歐波同杯”失效分析賽在北京航空航天大學(xué)沙河
2025年7月27日，原國土資源部副部長汪民、自然資源部礦產(chǎn)勘查技術(shù)指導(dǎo)中心首席專家嚴(yán)光生、自然資源部科技發(fā)展司原司長姚華軍、中國礦業(yè)聯(lián)合會(huì)秘書長車長波、遼寧省自然資源廳副廳長王宏亮、遼寧省地質(zhì)勘探礦
環(huán)境掃描鎢燈絲電鏡是一種先進(jìn)的電子顯微技術(shù)，能夠在接近常規(guī)環(huán)境條件下進(jìn)行材料的表面形貌和微觀結(jié)構(gòu)的觀察。它結(jié)合了掃描電子顯微鏡和環(huán)境條件控制的優(yōu)勢，能夠?qū)Σ牧蠘悠愤M(jìn)行無損檢測，且不需要復(fù)雜的樣品預(yù)處理
FEI掃描電鏡作為電子顯微鏡設(shè)備，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生命科學(xué)、納米技術(shù)、半導(dǎo)體等領(lǐng)域。在長時(shí)間使用中，正確的維護(hù)和保養(yǎng)不僅能確保其穩(wěn)定性與精度，還能延長其使用壽命。以下是FEI掃描電鏡的常見維護(hù)與保
電子顯微鏡（EM）的工作流程涵蓋樣本制備、設(shè)備調(diào)試、成像及數(shù)據(jù)分析四個(gè)核心環(huán)節(jié)，每個(gè)環(huán)節(jié)均需精細(xì)操作以確保圖像質(zhì)量。樣本制備是成像的基礎(chǔ)。透射電鏡（TEM）要求樣本厚度低于100納米，生物樣本需通過戊
場發(fā)射掃描電鏡是一種通過電子束掃描樣品表面以獲取其高分辨率圖像的顯微技術(shù)。與傳統(tǒng)的熱發(fā)射電子槍相比，它能夠提供更高的亮度和更小的電子束直徑，因此能實(shí)現(xiàn)更高的分辨率。在材料科學(xué)、生物學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域中
賽默飛掃描電鏡是一種強(qiáng)大的顯微分析工具，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)領(lǐng)域，在納米材料的表征和分析方面具有重要的應(yīng)用價(jià)值。以其高分辨率、高靈敏度和多功能的特點(diǎn)，成為納米材料研究和開發(fā)中的關(guān)鍵工具。通過電子束掃描樣
鎢燈絲掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面，通過收集從樣品表面反射或二次電子的信號來獲取圖像的顯微鏡技術(shù)。它可以提供高分辨率的圖像，能夠深入觀察到樣品的微觀結(jié)構(gòu)。鎢燈絲作為電子槍的發(fā)射源，是產(chǎn)生電子束
一、日常維護(hù)清潔與外觀維護(hù)檢測窗口：每次使用后用柔軟無塵布輕擦，避免尖銳物品刮擦導(dǎo)致?lián)p壞。外殼：定期用濕布擦拭，去除灰塵和污垢，禁用強(qiáng)酸、強(qiáng)堿或有機(jī)溶劑，防止腐蝕或褪色。窗口膜更換：若測量尖銳或凸起樣
SEM掃描電子顯微鏡是一種利用電子束掃描樣品表面，并通過檢測樣品表面與電子束相互作用所產(chǎn)生的信號來獲得樣品微觀形貌的高分辨率顯微鏡。其高分辨率成像能力和多功能分析特性，使其在科學(xué)研究與工業(yè)檢測中發(fā)揮著
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