目錄:卡爾蔡司（上海）管理有限公司>>電子顯微鏡>>聚焦離子束掃描電鏡>> Crossbeam 330 雙束電鏡蔡司 Crossbeam 330 聚焦離子束掃描電鏡
[ 產(chǎn)品特點 ]
ü “強" 表征：Gemini 系統(tǒng)加持，成像媲美高級場發(fā)射電鏡，樣品兼容性強
ü “快" 制備：搭配高通量離子槍，快速完成亞表面結(jié)構(gòu)截面制備與表征
ü “易" TEM：自動化流程 + 易用軟件，簡化高質(zhì)量 TEM 薄片制備
[ 應(yīng)用領(lǐng)域 ]
ü 新材料
ü 金屬
ü 新能源
ü 地礦油氣
ü 電子半導(dǎo)體
ü 生物材料
納米線摻雜正極顆粒的直接成像 鋼鐵中位錯的直接表征與分析
TFT內(nèi)部缺陷的表征與尺寸測量 纖維內(nèi)部缺陷與夾雜的表征
半導(dǎo)體樣品的TEM結(jié)果 復(fù)雜陶瓷樣品的TEM結(jié)果
X射線顯微鏡和聚焦離子束掃描電鏡（ XRM-FIB）關(guān)聯(lián)流程，實現(xiàn)電池污染物的定位、暴露、表征與分析
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