長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司是一家專注于儀器工控設(shè)備、測(cè)試方案系統(tǒng)集成的高新技術(shù)科技企業(yè)。作為專業(yè)的儀器設(shè)備及測(cè)控集成ATE提供商，多年來堅(jiān)持自主研發(fā)創(chuàng)新，結(jié)合引進(jìn)代理各大/品牌的優(yōu)質(zhì)儀器設(shè)備，致力于提供更科學(xué)智能的軟硬件測(cè)試方案，廣泛應(yīng)用于科研行業(yè)、生命科學(xué)、醫(yī)學(xué)、化學(xué)、化工、材料、環(huán)境、地質(zhì)、能源、藥物、刑事偵查和其他相關(guān)領(lǐng)域。

如有需求請(qǐng)致電，我們將為您提供優(yōu)質(zhì)的測(cè)試方案。
了解更多產(chǎn)品和測(cè)試方案請(qǐng)?jiān)L問艾克賽普網(wǎng)站，歡迎聯(lián)系艾克賽普獲取終有效價(jià)格！

是德keysight N7700210C 晶圓探針臺(tái)TAP插件

HIGHLIGHTS

全自動(dòng)的晶圓級(jí)和芯片級(jí)集成光電測(cè)試解決方案

在 TAP 測(cè)試序列中輕松集成晶圓探針臺(tái)控制程序

• 測(cè)試步驟可對(duì)光電探頭進(jìn)行定位和對(duì)準(zhǔn)
• 支持陣列/單光纖探頭、邊緣和表面耦合、射頻/直流探頭以及靈活的探頭方向（東/西/南/北）
• 自動(dòng)器件步進(jìn)和探針臺(tái)狀態(tài)控制
• 測(cè)量測(cè)試計(jì)劃和器件數(shù)據(jù)管理（導(dǎo)入/導(dǎo)出/編輯器件坐標(biāo)、器件元參數(shù)和測(cè)試條件）

支持的晶圓探針臺(tái)

• Formfactor CM300xi 與 Velox 軟件和硅光工具

Keysight PathWave 測(cè)試自動(dòng)化平臺(tái)（TAP）是一款基于 Microsoft ./NET 的現(xiàn)代化應(yīng)用軟件，既可以獨(dú)立使用，也可以與更高級(jí)的測(cè)試執(zhí)行軟件環(huán)境結(jié)合使用。儀器插件所提供的測(cè)試步驟可以添加到工作流程序列中，并且無需使用儀器級(jí)的編程命令。N7700210C 晶圓探針臺(tái)插件能夠控制與 Formfactor 半自動(dòng)探針臺(tái)硬件以及 Formfactor Velox 和硅光工具軟件的接口，使自動(dòng)化測(cè)試變得更簡(jiǎn)單。在一個(gè)測(cè)試計(jì)劃中，測(cè)試步驟可以完成晶圓卡盤移動(dòng)以及探頭定位和對(duì)準(zhǔn)等任務(wù)，并且可與儀器測(cè)試執(zhí)行步驟結(jié)合使用。測(cè)試步驟中還包括對(duì)晶圓探針臺(tái)定位設(shè)置、射頻探頭和光探頭的簡(jiǎn)單配置。

是德keysight N7700210C 晶圓探針臺(tái)TAP插件