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在應(yīng)急救援、軍事設(shè)備等關(guān)鍵領(lǐng)域，儲(chǔ)備電源如同設(shè)備的“心臟”，必須在條件下提供穩(wěn)定電力。傳統(tǒng)鉛酸系統(tǒng)雖成本低廉、技術(shù)成熟，卻在低溫環(huán)境下表現(xiàn)不佳，激活時(shí)間延長(zhǎng)成為制約其應(yīng)用的主要瓶頸。近日，一項(xiàng)創(chuàng)新研究
工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域再迎技術(shù)革新！Slynx2全新升級(jí)版正式發(fā)布，以「更好、更快、更智能」為核心，融合光學(xué)技術(shù)與自動(dòng)化工具，為3D光學(xué)計(jì)量學(xué)樹立新。無論面對(duì)光滑、階梯狀還是粗糙表面，它都能以亞納米級(jí)精度輕松應(yīng)
你有沒有好奇過，為什么飄落的雪花總帶著精致的六角紋路？為什么冰面明明是堅(jiān)硬的固體，卻能讓運(yùn)動(dòng)員在上面自由滑行？在央視紀(jì)錄片《科學(xué)之美》里，這些藏在冰雪中的奧秘，被一個(gè)“微觀神器”一一揭開——它就是澤攸
UPC獎(jiǎng)勵(lì)Sensofar的軌跡實(shí)現(xiàn)公司獲得了最佳技術(shù)型公司或分拆上面的圖片。Terrassa光學(xué)和視光學(xué)學(xué)院院長(zhǎng)JoanGispets代表Sensofar接受獎(jiǎng)項(xiàng)在著名的UPC（加泰羅尼亞理工大學(xué)）
SHARK項(xiàng)目總結(jié)和數(shù)字演示我們走過了漫長(zhǎng)的道路,森發(fā)作為財(cái)團(tuán)成員加入了SHARK歐盟項(xiàng)目（由歐盟地平線2020框架計(jì)劃的研究和創(chuàng)新資金支持，贈(zèng)款協(xié)議編號(hào)768701），目前正接近項(xiàng)目的尾聲。該項(xiàng)目的
任何關(guān)于光刻技術(shù)的討論，都繞不開瑞利判據(jù)。這個(gè)源于天文學(xué)家瑞利勛爵的準(zhǔn)則，精準(zhǔn)地定義了投影式光刻系統(tǒng)所能實(shí)現(xiàn)的最小特征尺寸。CD=k1*(λ/NA)這個(gè)簡(jiǎn)潔公式揭示了決定光刻分辨率的三大核心要素：波長(zhǎng)
慢性心力衰竭是全球性的健康挑戰(zhàn)，高發(fā)病率和高死亡率給無數(shù)家庭帶來沉重負(fù)擔(dān)。盡管現(xiàn)有藥物能一定程度緩解癥狀，但傳統(tǒng)全身給藥方式難以在心臟病變部位維持理想濃度，且易引發(fā)副作用，限制療效突破。近日，一項(xiàng)發(fā)表
作為材料科學(xué)領(lǐng)域的高級(jí)分析工具，蔡司EVO系列掃描電鏡憑借其模塊化設(shè)計(jì)和智能化操作界面，為科研人員提供了從基礎(chǔ)成像到復(fù)雜分析的全流程解決方案。本文系統(tǒng)梳理其操作流程與關(guān)鍵技術(shù)要點(diǎn)。一、開機(jī)準(zhǔn)備與設(shè)備自
在材料科學(xué)研究與工業(yè)質(zhì)檢領(lǐng)域，金相試樣的制備質(zhì)量直接影響顯微分析的準(zhǔn)確性。司特爾作為金相制樣設(shè)備的品牌，其金相制樣切割機(jī)憑借杰出的性能和精心的用材設(shè)計(jì)，成為實(shí)驗(yàn)室制備高質(zhì)量試樣的核心工具。一、核心性能
在半導(dǎo)體制造工藝快速發(fā)展的今天，精密三維測(cè)量技術(shù)正成為推動(dòng)行業(yè)進(jìn)步的關(guān)鍵力量。近日，一場(chǎng)以"半導(dǎo)體制造中的精密三維測(cè)量技術(shù)"為主題的網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)，深入探討了該領(lǐng)域的突破與應(yīng)用前景。第三代半導(dǎo)體材料的精密
Sensofar白光干涉儀作為精密光學(xué)測(cè)量設(shè)備，使用中易受光學(xué)部件、機(jī)械結(jié)構(gòu)、軟件系統(tǒng)及環(huán)境等因素影響出現(xiàn)故障。以下是其常見問題、成因及對(duì)應(yīng)排查解決辦法，結(jié)合其Sneox等主流系列的特性整理而來：光源
微透鏡陣列作為光學(xué)領(lǐng)域的核心元件，由數(shù)百至數(shù)千個(gè)微米級(jí)透鏡單元組成，廣泛應(yīng)用于成像系統(tǒng)、光通信、傳感器等領(lǐng)域。其表面微觀3D輪廓參數(shù)（如曲率半徑、面型誤差、中心厚度等）直接影響光學(xué)性能，而白光干涉儀S
在半導(dǎo)體、精密光學(xué)等制造領(lǐng)域，表面測(cè)量常面臨“精度”與“范圍”的兩難——白光干涉（CSI）能掃數(shù)百微米卻難及納米級(jí)精度，相移干涉（PSI）達(dá)亞納米精度卻量程受限。而Sensofar的ePSI技術(shù)，用創(chuàng)
端銑刀的多角度特性描述在工具行業(yè)中，光學(xué)測(cè)量在從設(shè)計(jì)和工具使用的角度都是取得成功的關(guān)鍵。光學(xué)輪廓儀為制造商提供寶貴的信息，幫助他們優(yōu)化他們的工具和工藝。光學(xué)測(cè)量在工具制造中的一個(gè)關(guān)鍵應(yīng)用是切削工具的尺寸特征化，以確保工具的最佳性能和長(zhǎng)壽命。除尺寸特征化外，粗糙度測(cè)量對(duì)于預(yù)測(cè)切割材...
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