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等離子電子/氣體密度分布測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
等離子電子/氣體密度分布測(cè)試系統(tǒng)是等離子體研究的一個(gè)重要課題，等離子作為一個(gè)非常復(fù)雜的體系，診斷手段有很多種，其中光譜學(xué)是常用的手段；而等離子體電子密度分布，也...
光學(xué)元件形貌測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
光學(xué)元件形貌測(cè)試系統(tǒng)是Phasics推出的一款多波長(zhǎng)動(dòng)態(tài)干涉儀，該產(chǎn)品應(yīng)用了Phasics的橫向四波剪切干涉技術(shù),可以實(shí)現(xiàn)動(dòng)態(tài)的波前測(cè)量，從而快速得到樣品的表面...
鏡頭MTF測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
鏡頭MTF測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備采用Phasics的四波剪切干涉?zhèn)鞲衅?，?05nm~940nm多種波長(zhǎng)光源可選，而且同時(shí)最多可以配置8個(gè)波長(zhǎng)的光源。
激光損傷閾值測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
激光損傷閾值測(cè)試系統(tǒng)不同激光器類型，損傷的機(jī)理并不一致；對(duì)于連續(xù)激光器，通常是熱積累導(dǎo)致的損傷；而對(duì)于脈沖激光器，則存在多重的損傷機(jī)制，而且不同脈寬的激光器，占...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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