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當(dāng)前位置：山金工業(yè)（深圳）有限公司>>otsuka大塚電子>> 精品otsuka大塚電子 SF-3/800 超高速光譜干涉式
更新時間：2026-02-23 11:48:07瀏覽次數(shù)：326次
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otsuka大塚電子 FE-300F 薄膜厚度監(jiān)測儀
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 尺寸 | 30 英寸 x 14.25 英寸 x 13.25 英寸 76 厘米 x 36 厘米 x 33.5 厘 |
|---|---|---|---|
| 重量 | 90 磅 | 41 千克 | 電氣 | 115/230 伏 50/60 赫茲電源線 |
| 氣相色譜-I | 適用于 P-2000/G 的帶把手玻璃夾（2 套） | 玻璃管 | 鋁硅酸鹽 |
otsuka大塚電子 SF-3/800 超高速光譜干涉式
otsuka大塚電子 SF-3/800 超高速光譜干涉式
產(chǎn)品信息
特征
可進(jìn)行非接觸式、非破壞性厚度測量
反射式光學(xué)系統(tǒng)（可從一側(cè)接觸進(jìn)行測量）
可實現(xiàn)高速（ 5kHz）和實時評估
高穩(wěn)定性（重復(fù)性小于0.01%）
耐粗糙度
可在任何距離使用
支持多層結(jié)構(gòu)（最多 5 層）
內(nèi)置NG數(shù)據(jù)清除功能
要點一：獨(dú)特技術(shù)
它可處理多種厚度的薄膜，并實現(xiàn)高波長分辨率。
大塚電子的獨(dú)特技術(shù)被集成于緊湊的機(jī)身之中。
要點2：高速響應(yīng)
它也非常適合工廠生產(chǎn)線，因為它可以精確地測量運(yùn)動物體的螺距。
要點3：適用于各種表面狀況的樣品
直徑約為 φ20 μm 的微小光斑
即使對于表面狀況各異的樣品也能進(jìn)行厚度測量。
第四點：與各種環(huán)境兼容
測量距離可達(dá) 200 毫米，
您可以根據(jù)自己的目的和應(yīng)用創(chuàng)建合適的測量環(huán)境。
測量項目
厚度測量（5層）
目的
各種厚膜厚度
*1：測量初始標(biāo)準(zhǔn)樣品氣隙約為 1000 μm 時的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差 (n = 20)
*2：使用 WD 80 mm 探頭時的設(shè)計值
非常適用于界面化學(xué)、無機(jī)物質(zhì)、半導(dǎo)體、聚合物、生物學(xué)、制藥和醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究，不僅涉及微小顆粒，還涉及薄膜和平板表面的科學(xué)研究。
● 新型功能材料領(lǐng)域
- 燃料電池相關(guān)（碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬）
- 納米生物相關(guān)（納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS、納米生物粒子）、納米氣泡等。
● 陶瓷/著色材料工業(yè)領(lǐng)域
- 陶瓷（二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等）
- 無機(jī)溶膠的表面改性/分散/聚集控制
- 顏料的分散/聚集控制（炭黑/有機(jī)顏料）
- 漿料狀樣品
- 濾光器
- 浮游選定礦物的捕集材料的收集和研究
● 半導(dǎo)體領(lǐng)域
- 異物附著在硅晶片表面的原理解析
- 研磨劑和添加劑與晶片表面的相互作用的研究
- CMP漿料的相互作用
● 聚合物/化工領(lǐng)域
- 乳液（涂料/粘合劑）的分散/聚集控制，乳膠的表面改性（醫(yī)藥/工業(yè)）
- 聚電解質(zhì)（聚苯乙烯磺酸鹽，聚羧酸等）的功能研究
- 功能納米顆粒紙/紙漿造紙過程控制和紙漿添加劑研究
● 制藥/食品工業(yè)領(lǐng)域
- 乳液（食品/香料/醫(yī)療/化妝品）分散/聚集控制及蛋白質(zhì)的機(jī)能性檢測
- 脂質(zhì)體/囊泡分散/聚集控制及表面活性劑（膠束）機(jī)能性檢測
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