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山金工業(yè)(深圳)有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第2年

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  • otsuka大塚電子 高速減速測量裝置 RE-200

    otsuka大塚電子 高速減速測量裝置 RE-200RE-200是什么?RE-200 將由光子晶體元件(偏振元件)和 CCD 相機(jī)組成的偏振測量模塊與透射式偏振...

    型號(hào): 進(jìn)口 所在地:深圳市參考價(jià): ¥46000更新時(shí)間:2026/2/24 15:34:25 對(duì)比
    otsuka大塚電子進(jìn)口RE-200高速減速測量裝置RE-200
  • otsuka大塚電子 LE -5400 高速光譜分析儀

    otsuka大塚電子 LE -5400 高速光譜分析儀該設(shè)備可通過與生產(chǎn)線控制信號(hào)同步,高速在線評(píng)估LED的光學(xué)特性。LE-5400提供質(zhì)量控制所需的光學(xué)特性信...

    型號(hào): 精品 所在地:深圳市參考價(jià): ¥7500更新時(shí)間:2026/2/24 15:30:28 對(duì)比
    otsuka大塚電子LE -5400精品LE -5400高速光譜分析儀
  • otsuka大塚電子 QE-2100 量子效率測量器

    otsuka大塚電子 QE-2100 量子效率測量器 可即時(shí)測量絕對(duì)量子效率(絕對(duì)量子產(chǎn)率)。兼容粉末、溶液、固體(薄膜)和薄膜樣品。低雜散光多通道光譜檢測器顯...

    型號(hào): 精選 所在地:深圳市參考價(jià): ¥7800更新時(shí)間:2026/2/24 15:27:17 對(duì)比
    otsuka大塚電子精選量子效率測量器QE-2100QE-2100
  • otsuka大塚電子 IL100 光譜輻照度測量器

    otsuka大塚電子 IL100 光譜輻照度測量器IL100光譜輻照度測量系統(tǒng)用于評(píng)估光源的輻照度。它通過光譜輻照度測量實(shí)現(xiàn)高精度輻照度測量,測量波長范圍寬廣,...

    型號(hào): 實(shí)惠 所在地:深圳市參考價(jià): ¥8250更新時(shí)間:2026/2/24 15:24:00 對(duì)比
    實(shí)惠光譜輻照度測量器IL100otsuka大塚電子IL100
  • otsuka大塚電子 FE-5000 多功能光譜橢偏儀

    otsuka大塚電子 FE-5000 多功能光譜橢偏儀除了能夠進(jìn)行高精度薄膜分析的光譜橢偏儀之外,該系統(tǒng)還配備了自動(dòng)可變測量角度機(jī)構(gòu),使其適用于所有類型的薄膜。...

    型號(hào): 全新 所在地:深圳市參考價(jià): ¥42000更新時(shí)間:2026/2/24 15:03:20 對(duì)比
    FE-5000多功能光譜橢偏儀otsuka大塚電子FE-5000山金
  • otsuka大塚電子 RETS-100nx 延遲測量裝置

    otsuka大塚電子 RETS-100nx 延遲測量裝置這款延遲測量裝置兼容所有類型的薄膜,包括OLED偏光片、層壓相位差膜以及帶有IPS LCD相位差膜的偏光...

    型號(hào): 精選 所在地:深圳市參考價(jià): ¥15000更新時(shí)間:2026/2/24 14:44:47 對(duì)比
    精選延遲測量裝置RETS-100nxotsuka大塚電子RETS-100nx
  • otsuka大塚電子 OPTM-A3 顯微薄膜厚度計(jì)

    otsuka大塚電子 OPTM-A3 顯微薄膜厚度計(jì)OP?(Optimum)是一款利用顯微光譜技術(shù)測量微觀區(qū)域絕對(duì)反射率的儀器,能夠高精度地分析薄膜厚度和光學(xué)常...

    型號(hào): 精品 所在地:深圳市參考價(jià): ¥42500更新時(shí)間:2026/2/24 14:37:06 對(duì)比
    精品OPTM-A3otsuka大塚電子OPTM-A3顯微薄膜厚度計(jì)
  • otsuka大塚電子 OPTM-A2 顯微薄膜厚度計(jì)

    otsuka大塚電子 OPTM-A2 顯微薄膜厚度計(jì)OP?(Optimum)是一款利用顯微光譜技術(shù)測量微觀區(qū)域絕對(duì)反射率的儀器,能夠高精度地分析薄膜厚度和光學(xué)常...

    型號(hào): 原裝 所在地:深圳市參考價(jià): ¥46000更新時(shí)間:2026/2/24 14:34:55 對(duì)比
    otsuka大塚電子OPTM-A2原裝顯微薄膜厚度計(jì)OPTM-A2
  • otsuka大塚電子 OPTM-A1 顯微薄膜厚度計(jì)

    otsuka大塚電子 OPTM-A1 顯微薄膜厚度計(jì)OP?(Optimum)是一款利用顯微光譜技術(shù)測量微觀區(qū)域絕對(duì)反射率的儀器,能夠高精度地分析薄膜厚度和光學(xué)常...

    型號(hào): 精選 所在地:深圳市參考價(jià): ¥35200更新時(shí)間:2026/2/24 14:32:52 對(duì)比
    顯微薄膜厚度計(jì)精選OPTM-A1otsuka大塚電子山金
  • otsuka大塚電子 MINUK 3D 光波場三維顯微鏡

    otsuka大塚電子 MINUK 3D 光波場三維顯微鏡特征02可采集1400微米深度范圍內(nèi)的所有信息,并可沿任意高度進(jìn)行切片。單次測量即可獲取相當(dāng)于數(shù)千張圖像...

    型號(hào): 全新 所在地:深圳市參考價(jià): ¥16300更新時(shí)間:2026/2/24 14:26:24 對(duì)比
    otsuka大塚電子光波場三維顯微鏡MINUK 3DMINUK 3D山金工業(yè)
  • otsuka大塚電子 GP-2000 光譜光分布器

    otsuka大塚電子 GP-2000 光譜光分布器支持有機(jī)發(fā)光二極管和大型顯示器的光分布測量通過自動(dòng)控制雙軸測角儀,可以測量每個(gè)角度的光譜分布,并利用球面系數(shù)法...

    型號(hào): 原廠 所在地:深圳市參考價(jià): ¥47000更新時(shí)間:2026/2/23 15:26:23 對(duì)比
    GP-2000光譜光分布器原廠GP-2000otsuka大塚電子
  • otsuka大塚電子 GP-1100 光譜光分布設(shè)備

    otsuka大塚電子 GP-1100 光譜光分布設(shè)備 這是一個(gè)用于測量照明燈具光分布特性的設(shè)備。?采用自主研發(fā)的光譜儀,可實(shí)現(xiàn)高精度測量!?可同時(shí)進(jìn)行顏色測量和...

    型號(hào): 全新 所在地:深圳市參考價(jià): ¥26000更新時(shí)間:2026/2/23 14:55:12 對(duì)比
    全新光譜光分布設(shè)備otsuka大塚電子GP-1100GP-1100
  • otsuka大塚電子 光譜光分布測量器 GP-500

    otsuka大塚電子 光譜光分布測量器 GP-500這是一個(gè)用于測量照明燈具光分布特性的設(shè)備。?采用自主研發(fā)的光譜儀,可實(shí)現(xiàn)高精度測量!?可同時(shí)進(jìn)行顏色測量和光...

    型號(hào): 實(shí)惠 所在地:深圳市參考價(jià): ¥75400更新時(shí)間:2026/2/23 14:29:50 對(duì)比
    otsuka大塚電子GP-500光譜光分布測量器實(shí)惠全新進(jìn)口
  • otsuka大塚電子 SM-100S 智能涂層測厚儀

    otsuka大塚電子 SM-100S 智能涂層測厚儀 高精度便攜式薄膜測厚儀“我想測的時(shí)候不能立即測量"、 您在測量薄膜厚度時(shí)是否遇到過這些問題?這款智能薄膜測...

    型號(hào): 實(shí)惠 所在地:深圳市參考價(jià): ¥45600更新時(shí)間:2026/2/23 14:14:45 對(duì)比
    SM-100Sotsuka大塚電子智能涂層測厚儀SM-100S實(shí)惠
  • otsuka大塚電子 SM-100P 智能涂層測厚儀

    otsuka大塚電子 SM-100P 智能涂層測厚儀 測量目標(biāo) ?光學(xué)薄膜 ?涂層薄膜 (防反射薄膜、粘合層等) ?半導(dǎo)體(氧化膜、光刻膠膜等) ?各種薄膜 (...

    型號(hào): 實(shí)惠 所在地:深圳市參考價(jià): ¥65000更新時(shí)間:2026/2/23 14:01:04 對(duì)比
    otsuka大塚電子智能涂層測厚儀SM-100P實(shí)惠SM-100P
  • otsuka大塚電子 FE-300F 薄膜厚度監(jiān)測儀

    otsuka大塚電子 FE-300F 薄膜厚度監(jiān)測儀這是一款小巧、低成本的薄膜厚度計(jì),采用光學(xué)干涉法測量薄膜厚度,精度高,操作簡便。一體式外殼將所有必要的組件集...

    型號(hào): 全新 所在地:深圳市參考價(jià): ¥35000更新時(shí)間:2026/2/23 13:50:56 對(duì)比
    全新薄膜厚度監(jiān)測儀otsuka大塚電子FE-300F山金
  • otsuka大塚電子 MCPD-6800 多通道光譜儀

    otsuka大塚電子 MCPD-6800 多通道光譜儀MCPD-6800 是一款基礎(chǔ)光譜測量與分析系統(tǒng)。它能夠即時(shí)測量光譜,其可自由配置的測量光學(xué)系統(tǒng)和豐富的選...

    型號(hào): 實(shí)惠 所在地:深圳市參考價(jià): ¥62550更新時(shí)間:2026/2/23 13:47:01 對(duì)比
    otsuka大塚電子多通道光譜儀MCPD-6800實(shí)惠MCPD-6800
  • otsuka大塚電子 MCPD-9800 多通道光譜儀

    otsuka大塚電子 MCPD-9800 多通道光譜儀這是一款多功能多通道光譜檢測器,覆蓋紫外到近紅外波段。它可在短短 5 毫秒內(nèi)完成光譜測量。

    型號(hào): 山金 所在地:深圳市參考價(jià): ¥46900更新時(shí)間:2026/2/23 11:57:28 對(duì)比
    山金MCPD-9800otsuka大塚電子多通道光譜儀MCPD-9800
  • otsuka大塚電子 SF-3/1300 高速光譜測厚儀

    otsuka大塚電子 SF-3/1300 高速光譜測厚儀該設(shè)備可在研磨和拋光過程中以超高速、實(shí)時(shí)、高精度非接觸式測量晶圓和樹脂。

    型號(hào): 進(jìn)口 所在地:深圳市參考價(jià): ¥62550更新時(shí)間:2026/2/23 11:51:05 對(duì)比
    進(jìn)口SF-3/1300高速光譜測厚儀otsuka大塚電子精密儀器
  • otsuka大塚電子 SF-3/800 超高速光譜干涉式

    otsuka大塚電子 SF-3/800 超高速光譜干涉式該設(shè)備可在研磨和拋光過程中以超高速、實(shí)時(shí)、高精度非接觸式測量晶圓和樹脂。

    型號(hào): 精品 所在地:深圳市參考價(jià): ¥42000更新時(shí)間:2026/2/23 11:48:07 對(duì)比
    otsuka大塚電子SF-3/800精品超高速光譜干涉式SF-3/800

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