顯微光譜測量系統(tǒng) ProSp-Micro40

ProSp-Micro40顯微光譜測量系統(tǒng)集成熒光、拉曼和反射光譜測量功能。通過把光譜模塊集成到顯微鏡上，實現顯微熒光、拉曼和其他光譜信息的測量。系統(tǒng)由光譜儀、激光器、光源、顯微鏡等部分構成，自由靈活，幫助用戶快速對樣品微觀結構，微觀光譜信息的測試和分析；此外顯微光譜測量系統(tǒng) ProSp-Micro40可以加裝二維電控掃描臺，通過軟件控制，實現光譜二維掃面測量功能。

拉曼模式

拉曼探頭可直接插入顯微光譜測試模塊中，從而快速實現拉曼光譜測量。支持光譜范圍覆蓋400-1100nm，僅需通過更換探頭和激光器，便可實現488nm、532nm、633nm、785nm激發(fā)波長的拉曼光譜測量。

搭配便攜式拉曼光譜儀

顯微光譜測量系統(tǒng) ProSp-Micro40的顯微光譜測試模塊也能夠適配ACCUMAN SR 系列科研級便攜拉曼，即插即用的工作模式讓您不僅可以實現便攜的拉曼光譜測量，還可以更方便地在實驗室內實現顯微拉曼光譜分析。

其他模式

熒光測量：顯微光譜測量模塊內部集成了熒光測試光路，通過SMA905光纖接口與熒光激光器和熒光光譜儀連接。其中連接激光器的SMA905接頭，可以改裝成為自由空間光作為輸入光源，從而得到更強的激發(fā)功率或更好的光斑質量。模塊中帶濾光片插槽，可以放置適配不同激發(fā)波長的激發(fā)濾光片和發(fā)射濾光片，實現不同激發(fā)波長的顯微熒光測量。

顏色和反射測量：使用光纖把鎢燈光源和顯微光譜測量模塊連接起來，共用熒光光路，即可實現顯微反射光譜測量和顯微顏色測量功能。

二維Mapping：選配二維電動平臺，使用操作軟件設置面掃描采樣， 獲取一定范圍內的逐點掃描光譜數據，可用于表征材料表面微觀結構和光譜成像。同時測試結果還可以通過圖像繪制的方式呈現出來。

應用范圍

微流控

植物葉片研究

激光材料評價

生物和細胞測試

光子晶體測試

珠寶、古籍檢測

納米材料分析

* 系統(tǒng)中部分配件非原廠制造（如顯微鏡），根據客戶實際需求進行選配

顯微光譜測量系統(tǒng) ProSp-Micro40產品手冊