納米紅外掃描近場光譜和成像系統(tǒng)Anasys &是2015年Anasys發(fā)布的最新一代納米紅外光譜系統(tǒng)，新增了散射近場光學(xué)成像和光譜功能（s-SNOM），在同一平臺(tái)上實(shí)現(xiàn)了AFM-IR和s-SNOM兩種技術(shù)。該設(shè)備的空間分辨率高達(dá)10nm，適用于聚合物、復(fù)合材料、生物樣本、半導(dǎo)體、等離子體、納米天線等領(lǐng)域。納米紅外掃描近場光譜和成像系統(tǒng)Anasys &AFM-IR技術(shù)確保與FTIR光譜一致，而s-SNOM則通過金屬鍍層AFM探針提升光輻射，并具備光路自動(dòng)優(yōu)化功能。儀器獲得多家機(jī)構(gòu)認(rèn)可，且操作簡便，同時(shí)支持多種AFM測量模式。

2015年Anasys發(fā)布了最新一代產(chǎn)品nanoIR2-s，在廣受歡迎的第二代納米紅外光譜系統(tǒng)的基礎(chǔ)上增加了散射近場光學(xué)成像和光譜功能（s-SNOM）。實(shí)現(xiàn)了同一平臺(tái)兼具AFM-IR和s-SNOM兩種技術(shù)。儀器的空間分辨率達(dá)到10nm，廣泛用于各種聚合物、有機(jī)無機(jī)復(fù)合材料、生物樣本、半導(dǎo)體、等離子體、納米天線等。

納米紅外&散射近場光學(xué)成像和光譜系統(tǒng)(nanoIR2-s)

AFM-IR &s-SNOM

  AFM-IR 消除分析化學(xué)研究人員的擔(dān)憂--與FTIR光譜吻合，沒有吸收峰的任何偏移

  s-SNOM使用金屬鍍層AFM探針代替?zhèn)鹘y(tǒng)光纖探針來增強(qiáng)和散射樣品納米區(qū)域內(nèi)的光輻射，空間分辨率由AFM針尖的曲率半徑?jīng)Q定

  專業(yè)技術(shù)實(shí)現(xiàn)智能的光路優(yōu)化調(diào)整，無需擔(dān)心光路偏差拖延你的實(shí)驗(yàn)進(jìn)度

  最準(zhǔn)確的定性微區(qū)化學(xué)表征，得到美國國家標(biāo)準(zhǔn)局NIST, 橡樹嶺國家實(shí)驗(yàn)室等美國機(jī)構(gòu)的認(rèn)可

  簡單易用的操作，被三十多位企業(yè)用戶和近百位學(xué)術(shù)界所選擇

  基于DI傳承的多功能AFM實(shí)現(xiàn)納米熱學(xué)，力學(xué)，電學(xué)和磁學(xué)測量：

  納米熱分析模塊（nanoTA, SThM）

  洛侖茲接觸共振模塊（LCR）

  導(dǎo)電原子力顯微鏡鏡（CAFM）

  開爾文電勢顯微鏡（KPFM）

  磁力顯微鏡（MFM）

  靜電力顯微鏡（EFM）

10納米空間分辨率化學(xué)成像和光譜

石墨烯等離子體 高分辨率成像

石墨烯表面等離子體的近場相位和振幅成像；優(yōu)于10nm的光學(xué)成像

PTFE的nano FTIR光譜顯示相干分子振動(dòng)時(shí)域圖（上圖）,和相應(yīng)的近場光譜（下左圖）。

pNTP分子層的近場光譜（圖下右）。