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會(huì)議簡(jiǎn)介尊敬的用戶(hù)和合作伙伴您好，感謝布魯克光譜部門(mén)的大力支持，“布魯克工業(yè)應(yīng)用技術(shù)研討會(huì)”將于2025年8月25-26日在束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司倫琴實(shí)驗(yàn)室舉行！屆時(shí)布魯克和倫琴實(shí)驗(yàn)室的應(yīng)用專(zhuān)家，將
XRM應(yīng)用文章布魯克納米CT賦能！仿生氣凝膠止血研究成果榮登《NanoLett.》1引言近日，一篇題為“CentrifugalSpinning-DerivedBiomimeticAerogelforR
以“海神”之名，重塑微觀(guān)新視界！2025年2月28日--布魯克新款模塊化臺(tái)式三維X射線(xiàn)顯微成像系統(tǒng)X4Poseidon震撼來(lái)襲！在古希臘神話(huà)中，“海神”波塞冬執(zhí)掌三叉戟統(tǒng)御浩瀚海洋，其無(wú)界探索之力與掌
文章來(lái)源：https://doi.org/10.1016/j.radmeas.2025.107377在科學(xué)研究的廣闊領(lǐng)域中，精確的測(cè)量工具往往是推動(dòng)學(xué)科發(fā)展的關(guān)鍵力量。在此，我們要為大家介紹一款在固體
會(huì)議介紹在深圳市領(lǐng)導(dǎo)指導(dǎo)和深圳市發(fā)展改委支持下，深圳市半導(dǎo)體與集成電路產(chǎn)業(yè)聯(lián)盟攜手深圳市重大產(chǎn)業(yè)投資集團(tuán)有限公司共同主辦的首屆“SEMiBAY灣芯展”——灣區(qū)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)生態(tài)博覽會(huì)，將于今年10月16日
布魯克X射線(xiàn)部門(mén)王金波碳纖維增強(qiáng)復(fù)合材料（CFRP）因其兼具高抗拉強(qiáng)度、高剛性和輕量化特性，作為下一代技術(shù)和產(chǎn)業(yè)的關(guān)鍵材料正受到普遍關(guān)注。一、CFRP力學(xué)性能的影響因素CFRP的力學(xué)性能受多種因素明顯
近期，克萊姆森大學(xué)研究團(tuán)隊(duì)在《JournalofLuminescence》發(fā)表重要成果，通過(guò)FreibergInstrumentsLexsygResearch釋光光譜儀等先進(jìn)設(shè)備，系統(tǒng)闡明了六方相Bi
在材料科學(xué)、化學(xué)和生命科學(xué)領(lǐng)域，許多關(guān)鍵的物理過(guò)程、化學(xué)反應(yīng)和生物功能都與未成對(duì)電子密切相關(guān)。電子順磁共振波譜儀是一種能夠直接、專(zhuān)一地檢測(cè)和表征含有未成對(duì)電子的順磁性物質(zhì)的分析技術(shù)。它是揭示自由基、過(guò)
在材料表征領(lǐng)域，確定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)是理解其物理化學(xué)性質(zhì)的基礎(chǔ)。X射線(xiàn)衍射（XRD）技術(shù)是進(jìn)行物相鑒定、晶體結(jié)構(gòu)解析的“黃金標(biāo)準(zhǔn)”。而布魯克X射線(xiàn)衍射儀以其分辨率、穩(wěn)定的性能和強(qiáng)大的軟件分析平臺(tái)，為材料
理解原始界面的化學(xué)環(huán)境是電化學(xué)、材料科學(xué)和表面科學(xué)領(lǐng)域長(zhǎng)期追求的目標(biāo)。電極-電解質(zhì)界面（SEI）被認(rèn)為是鋰離子電池和鋰金屬電池中重要的固體界面。目前，我們對(duì)SEI化學(xué)狀態(tài)的理解主要基于室溫（RT）和超
Lexsyg釋光探測(cè)器|從紫外到X射線(xiàn)研究背景在醫(yī)療診斷、安檢成像等X射線(xiàn)檢測(cè)領(lǐng)域，高性能閃爍體材料是重要元件。傳統(tǒng)無(wú)機(jī)晶體雖性能優(yōu)異，但存在成本高、加工難等問(wèn)題。近期，巴西圣卡洛斯物理研究所聯(lián)合多國(guó)
在材料表面分析領(lǐng)域，光電子能譜儀（XPS）憑借“表面靈敏、元素精準(zhǔn)、化學(xué)態(tài)解析”的核心優(yōu)勢(shì)，成為半導(dǎo)體、新能源、催化材料等行業(yè)的表面探針。它能實(shí)現(xiàn)從元素定性定量分析到化學(xué)價(jià)態(tài)識(shí)別的全維度檢測(cè)，而設(shè)備的
應(yīng)用分享|TOF-SIMS質(zhì)量分析器（下）：TRIFT結(jié)構(gòu)及特點(diǎn)在上一篇文章中，我們探討了TOF-SIMS高精度測(cè)量所面臨的挑戰(zhàn)，指出質(zhì)量分析器需要具備精密的離子光學(xué)設(shè)計(jì)以應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)。三重飛行時(shí)間聚
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