目錄:束蘊儀器（上海）有限公司>>三維X射線顯微鏡（XRM）>>粉末衍射儀>> D8 ADVANCE粉末衍射儀
| 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品/農產品,化工,生物產業(yè) |
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工作原理：
1、X射線源：產生單色X射線（如Cu Kα射線，波長約0.154 nm），照射到粉末樣品上。
2、樣品特性：粉末樣品由無數(shù)隨機取向的小晶粒組成，確保所有可能的衍射方向均被覆蓋。
3、衍射條件：當X射線波長（λ）、晶面間距（d）和入射角（θ）滿足布拉格方程（2d sinθ = nλ）時，發(fā)生相干衍射，產生衍射峰。
4、探測器：記錄衍射角（2θ）和強度，形成衍射圖譜。
· 鑒別晶相和非晶相，并測定樣品純度
· 對多相混合物的晶相和非晶相進行定量分析
· 微觀結構分析（微晶尺寸、微應變、無序…）
· 熱處理或加工制造組件產生的大量殘余應力
· 織構（擇優(yōu)取向）分析
· 指標化、從頭晶體結構測定和晶體結構精修
對分布函數(shù)（PDF）分析是一種分析技術，它基于Bragg以及漫散射（“總散射”），提供無序材料的結構信息。其中，您可以通過Bragg衍射峰，了解材料的平均晶體結構的信息（即長程有序），通過漫散射，表征其局部結構（即短程有序）。
就分析速度、數(shù)據(jù)質量以及對非晶、弱晶型、納米晶或納米結構材料的分析結果而言，D8 ADVANCE和TOPAS軟件替代了市面上性能更好的PDF分析解決方案：
· 相鑒定
· 結構測定和精修
· 納米粒度和形狀
薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同，不過進一步提供了光束調節(jié)和角度操控功能。典型示例包括但不限于相鑒定、晶體質量、殘余應力、織構分析、厚度測定以及組分與應變分析。在對薄膜和涂層進行分析時，著重對厚度在nm和µm之間的層狀材料進行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜）。
D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質量的薄膜分析：
· 掠入射衍射
· X射線反射法
· 高分辨率X射線衍射
· 倒易空間掃描
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